流场流动分离耦合ICPMS用于检测和表征纳米银粒子

纳米材料的分析，应该包括其组成和大小的表征许多技术可以检测纳米大小的颗粒，但还不能提供有关粒子组成的信息，并且比较耗费时间和成本但是，电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）具有多元素同时分析的能力，检出限低且动态范围宽，这使得它非常适合用于无机工程纳米颗粒（ENPs）的测量虽然可以使用ICP-MS直接获得纳米粒子相关的元素的浓度，而有关ENPs特征的更多信息可以通过耦合一个按粒子大小分离的步骤在进行ICP-MS分析之前优先进行分析此应用程序中Z常用的大小分离技术是场流分离（FFF）技术由此产生的FFF-ICP-MS的联用技术可以提供十亿分之一数量级水平的纳米粒子的分离，检测和成分分析的能力这对纳米材料的环境学调查是至关重要的而且，相似的场流条件需要ICP-MS和FFF的接口相对简单 PerkinElmer 等离子质谱仪