2025-01-10 17:05:28X射线荧光分析法
X射线荧光分析法是一种利用X射线激发样品中原子内层电子,产生特征X射线荧光,再根据荧光波长和强度进行元素定性和定量分析的方法。该方法具有分析速度快、灵敏度高、操作简便、可多元素同时分析等优点,广泛应用于地质、冶金、环保、考古等领域。通过测量样品发出的特征X射线,可以准确测定样品中元素的种类和含量,为科研和工业生产提供重要数据支持。

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