2025-03-20 16:16:28STM-TEM光电一体测量系统

STM-TEM光电一体测量系统是集扫描隧道显微镜（STM）与透射电子显微镜（TEM）功能于一体的先进测量设备。它结合了STM的高分辨率表面成像能力与TEM的原子级结构分析能力，实现了在纳米尺度上对材料表面形貌、电子结构及成分的综合分析。该系统广泛应用于材料科学、纳米技术、半导体研究等领域，为科研人员提供了强大的分析工具。

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