- 2025-01-10 10:49:44大豆植物生长室
- 大豆植物生长室是一种专门用于研究大豆植物生长发育的实验室设备。它通常具备精确的环境控制能力，包括温度、湿度、光照和气体成分等，以模拟不同的生长条件。该设备广泛应用于植物科学、农学、遗传学等领域的研究和教学，对于揭示大豆生长发育规律、提高产量和品质、开发新品种等具有重要意义。
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- 大豆植物生长室
- 主要用途：适用于大豆及其他中等光照强度需求的植物生长。
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大豆植物生长室问答
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- 您的移动计量室-Zeiss T-scan模块化T-SCAN系统助力实现快速检测：系统即刻捕捉零件三维数据，无需任何准备工作。手持式T-SCAN激光扫描仪与光学跟踪系统T-TRACK，T-POINT接触式探针完 美结合，形成一套直观且高精度的三维计量解决方案。搭配GOM Inspect Suite软件套装，突破了其在三坐标测量技术领域的新高度。模块一体化概念模块一体化概念和完整的激光扫描仪解决方案为各种应用和表面检测提供极高的灵活性。及时发现偏差省时省钱：该移动式测量解决方案可作用于车间现场，带来直观的零件分析，测量以及数模建立。用户引导性的软件工作流程T-SCAN系统现与GOM Inspect Suite软件套装结合。用户可在视察器上实时查看扫描进度，并在扫描，探针探测和检测过程中获得软件操作提示。移动式测量系统 两种适配选择数据轻松捕获手持式激光扫描仪-ZEISS T-SCANT-SCAN扫描仪可进行快速，直观的三维数据采集。手持式设计符合人体工学，扫描轻松不费力。测头轻巧，结构紧凑，尤其适用于可及性非常差的零件部位的数据采集多尺寸测量ZEISS TTRACK 20蔡司T-TRACK20的测量体积可达20m³。单次设置即可测量大至4m的零件。上手容易，您可以高效，准确，快速的采集到三维数据。只需将零件放入其跟踪体积范围内，即可进行测量，无需准备参考点。可追溯的精度确保数据重复性和可靠性。高精度测量ZEISS TTRACK 10全新T-TRACK 10光学跟踪系统的测量体积可达10m³。与T-SCAN 10结合，只需进行一次设置，就可以测量长达2.5m的零件。配备高品质的蔡司光学元件，尤其适用于对精度有高要求的工业应用。可追溯的精度确保数据重复性和可靠性。快速单点测量ZEISS T-POINT蔡司T-POINT接触式探针是对物体标准几何形状，切边区域，以及光测量手段难以进入的死角区域进行单点测量的理想解决方案。它可以快速，稳定地采集到目标位置的三维数据。该设备可以与传统的测量探针一起使用，更换起来方便快捷。扩展您的测量体积ZEISS T-SCAN SMTs通过使用T-SCAN SMT（球形标靶），您可以进一步扩展测量体积，甚至结合多个蔡司T-SCAN系统使用。当被测零件尺寸过大，或者表面形状阻碍激光投影时，您可以将这个方便的多位置跟踪器安装到物体上，从而获得精度一致的三维数据。高过程可靠性GOM Inspect SuiteGOM Inspect Suite拥有成熟的三维计量体系标准。蔡司T-SCAN 目前与GOM Inspect Suite多合一软件解决方案实现同步结合。测量和检测均可以在软件中执行，全参数化的工作流程确保所有过程步骤的可追溯性。此外软件提供用户操作指引，可辅助用户进行扫描和探测，从而简化并加快工作流程。技术参数ZEISS T-SCAN 手持式激光扫描仪测量深度+/- 50 mm线宽至 125 mm工作距离150 mm线频率至 330 Hz数据速率210,000 测点/秒重量1100 g测头尺寸(包括把手和IR pins)300 x 170 x 150 mm缆线长度10 m点间距0.075 mm激光等级 (IEC 60825-1:2014)Class 2M （人眼安全）软件GOM Inspect SuiteT-SCAN 10产品型号T-SCAN 10测量距离： 测量物到相机距离2.0 m – 4.50 m测量体积10 m3扫描视场最 大 2894 mm x 2324 mm测量速率最快 2.8 kHz重量18.5 kg尺寸1150 x 180 x 150 mm软件GOM Inspect Suite精度可溯源是精确度 33+(33*L/1000)T-SCAN 20产品型号T-SCAN 20测量距离： 测量物到相机距离2.0 m – 6.0 m测量体积20 m3扫描视场最大 3200 mm x 2500 mm测量速率最快 2.8 kHz重量18.5 kg尺寸1150 x 180 x 150 mm软件GOM Inspect Suite精度可溯源是精确度 40+(40*L/1000)
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