紧凑型力矩测量耦合 - 产品信息 - 相关知识

2025-01-21 09:30:56紧凑型力矩测量耦合: 紧凑型力矩测量耦合是一种集成了力矩测量功能的设备组件，它设计紧凑、结构精巧，能够在有限的空间内实现高精度的力矩测量。该耦合通常采用先进的传感器技术，能够实时监测和记录传递的力矩大小，适用于各种需要精确控制力矩的场合，如机械传动系统、自动化装配线等。其优点包括测量准确、响应迅速、安装方便等，是提升机械设备性能和确保工艺质量的重要工具。

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紧凑型力矩测量耦合问答

2022-02-08 14:54:53解析示波器通道耦合与触发耦合的区别: 相信大家对示波器有着一定的了解，都知道示波器中有两反设置，其实，在示波器当中也存在两种“两耦”设置，一种是通道耦合方式，另一种是触发耦合方式。在电子电路中，将前级电路(或信号源)的输出信号送至后级电路(或负载)称为耦合。耦合的作用就是把某一电路的能量输送（或转换）到其他的电路中去。先来说示波器通道的耦合方式，一般打开示波器的通道菜单，就可以看到示波器有三种通道耦合方式的设置，分别是直流耦合、交流耦合、地。我们给示波器输入一个频率为1KHz、幅值为100V、偏置为50V的正弦波信号（即该信号含有50V的直流分量）。直流耦合也叫DC耦合，当选择此选项时，信号通过导线直接到前端放大器，被测信号含有的直流分量和交流分量都能通过，可用于查看低至0Hz且没有较大DC偏移的波形。此时信号显示如图所示：交流耦合也叫AC耦合，当选择此选项时，信号通过电容耦合到前端放大器，被测信号的直流信号被阻隔，只允许交流分量通过，可用于查看具有较大直流偏移的波形。此时信号显示如图所示：可以看到信号从零点（左侧黄色五边形里面写了个1的就是零点）往下移动了，上图中零点在波形下方位置，此时零点处于波形中间位置，因为信号的直流分量被过滤掉了。示波器的垂直档位是20V/div，信号下移了2格半，差不多正好就是50V。当耦合方式为地时，代表内部输入接地，断开外部输入。此时信号显示如图所示：接地耦合的作用是在不方便外部断开，或者外部干扰很大的时候，帮助我们准确寻找零点。通道耦合，是用来控制信号到达示波器前端放大器的能量输送方式。触发耦合，就是用来控制信号到达示波器触发电路的能量输送方式。常见的触发耦合有直流、交流、高频Y制、低频抑制、噪声抑制。类似通道耦合，当选择直流耦合的时候，直流分量和交流分量都能通过触发。选择交流耦合的时候，示波器会滤除触发信号中的直流成分。高频抑制会抑制触发信号中高于50KHz的信号，低频抑制会抑制触发信号中低于50KHz的信号，而噪声抑制，是用低灵敏度的直流耦合来抑制触发信号中的高频噪声。我们来看下面这个信号：此信号选用交流耦合，当触发电平超出波形的时候，信号依然可以被扫描同步。因为此信号是一个2V的方波，其中带有1V的直流分量。因此当触发耦合方式为交流时，信号实际应该下移1V，因此当触发电平-500mV时依然可以被触发。再来看下下面这个信号：此信号选用低频抑制，虽然触发电平在信号范围内，但是由于触发信号中低于50KHz的信号被抑制，因此信号依然无法被扫描同步，出现信号不稳定的现象。通道耦合与触发耦合虽然都是耦合但有本质的区别，它们只是并行的两个通道信号的耦合，两个通道的信号不会相互影响的。如需了解更多，欢迎访问安泰测试网www.agitek.com.cn。

2022-06-01 15:29:21OLI光纤微裂纹检测仪能有效检测FA耦合面测量: FA简称光纤阵列，是把光纤按照一定的间距排列固定起来形成的光器件，它是光进出光器件的通道。光纤阵列分为单芯光纤阵列（SFA）和多芯光纤阵列（MFA），光纤阵列有常规FA、45°光纤悬出FA、光纤转90°FA。45°FA利用端面全反射使光路90°转角与VCSEL或者PD耦合，这种方法耦合效率高，但苦于45°端面研磨工艺有较大难度，工艺制造成本高，生产良率不高。光纤转90°FA通常与硅光芯片中的光栅进行耦合，不过直接对准耦合，会存在一定的角度失配，尽管国内厂商经过这几年的努力与克服，已有不少厂家能够批量制造提高良率，但FA耦合面检测一直是通信行业所关注的热点话题。FA耦合一般都是在一些很小的尺寸里面，例如光器件、光模块、硅光芯片等等，这些器件级的检测对设备要求极高。而OLI光纤微裂纹检测仪是专门针对这种微小尺寸的检测利器，其空间分辨率高达10微米，能实现芯片内部结构可视化。OLI测量FA耦合面多芯FA耦合面测量，测试结果显示该耦合位置回损为-62dB，耦合情况良好由此可见，OLI光纤微裂纹检测仪能精准定位器件内部断点、微损伤点、耦合面以及链路连接点，以亚毫米级别分辨率探测光学原件内部，且广泛用于光器件、光模块损伤检测以及产品批量出货合格判定。如需了解更多产品详情，请随时联系

2022-09-25 19:01:02产品演示系列：VE Cam紧凑型全高清数码显微镜系统: VE Cam紧凑型全高清数码显微镜系统，在需要它的任何地方为您提供快速准确的观测。高质量定制化光学和数码功能结合的卓越性能。适用于目视观测及质量控制的理想之选。VE Cam的紧凑设计令工作环境减少杂乱，节省宝贵的工作空间。它不需要搭配PC电脑、键盘或鼠标，如果您的空间特别有限，可以简单地仅在该系统上安装一个屏幕。搭配小巧的迷你显示器，该系统仅需占地面积25 × 34毫米。以下视频由工程师为您演示VE Cam紧凑型全高清数码显微镜。紧凑型数码显微镜系统VE Cam 50和VE Cam 80专为提高生产率而设计，在小巧外观下提供了数码成像的功能、速度和效率。VE Cam兼具全新以及固有功能，使您能够最大化利用空间效率完成更多任务。可提供视场大小为80mm或50mm，VE Cam是许多常规检查任务的理想选择。适用多种领域包括：电子、机械工程、塑料、增材制造和陶瓷。 VE Cam • 紧凑型全高清数码显微镜，最大程度节省工作空间 • 高品质定制光学元件和800万像素摄像头，带来高品质成像，高效检测 • 触摸屏控制选项：易于使用和功能实现，节省时间和精力 • 无线连接：在不中断工作的情况下查看实时图像，监控生产流程• 单机系统：无需PC即可快速工作 • 支架选择丰富：满足不同的应用需求 • 高性价比高效精确观测紧凑设计胜任多种工作高效功能• 10个可编程用户预设• 6个快捷键可立即访问最常用的预设。• 可配置界面，将最常用的设置直接显示在屏幕上。简单选择即可查看所需要的功能。简化流程可轻松地将VE Cam集成在您的车间内进行中期检验或放在特定机器旁，以达到最大限度的便捷高效，减少往返不同工作区域运输样品的需要。随意控制可实时自定义的屏幕显示（OSD）菜单提供一系列的一触即用功能。可平移和缩放实时图像和保存的图像，可显示实时网格用于对齐和测量大小。只需简单地指向你需要的功能。图像上的图形覆盖有助于快速评估检验对象，并可以作为捕捉图像的一部分保存。添加可选的时间戳增强可追溯性。视觉辅助观察在同一时间查看2种不同的放大倍率。适应多种方式搭配最大尺寸为12寸的触摸屏作为完整的独立系统使用，可进行完全灵活的倾斜和旋转，最大化地提供舒适方便以及人机工效学优势。或者与更大的显示器监视器搭配使用，并连接PC电脑获得丰富的软件功能，如注释、测量和远程摄像头控制。还可通过鼠标、触摸屏、键盘、脚踏开关或小键盘进行操作控制。以上分别为标准显示器，触屏显示器，立式显示器(包括迷你显示器支架)。微调图像在对比度、亮度和图像大小之间找到完美平衡。通过光圈控制来精细调控聚焦的深度和照射在样品上的光线量和形状。这对于在高放大倍率下控制对比度十分重要。照明控制精准照明带来精准图像：控制内置的8点环形灯从屏幕方向带来直接照明，通过选择配件，增加底部透射照明、倾斜和灵活光源选项。 WiFi屏幕共享在不中断生产的情况下可以通过无线方式查看操作结果，并节省时间。VE Cam数码显微镜可通过灵活的无线网络连接方式，在智能设备上进行屏幕镜像显示。支架丰富的支架选项，可满足不同应用场景。快速有效地在不同环境中进行观测。

2023-07-05 10:58:55复合相变材料与液冷耦合的动力电池热管理系统的研究: HS-TGA-103热重分析仪主要由加热系统、称重系统、温度控制系统和数据处理系统组成。在测试过程中，样品被放置在加热系统内，通过温度控制系统进行升温。同时，称重系统监测样品的质量变化，并将数据传输至数据处理系统进行分析。通过测量样品质量随温度的变化，热重分析仪能够揭示材料的热稳定性和动力学行为等信息。复合相变材料与液冷耦合的动力电池热管理系统的研究【南昌大学刘自强】复合相变材料与液冷耦合的动力电池热管理系统的研究上海和晟 HS-TGA-103 热重分析仪

2023-08-04 11:22:00光纤微裂纹诊断仪（OLI）如何快速对硅光芯片耦合质量检测？: 硅光是以光子和电子为信息载体的硅基电子大规模集成技术，能够突破传统电子芯片的极限性能，是5G通信、大数据、人工智能、物联网等新型产业的基础支撑。光纤到硅基耦合是芯片设计十分重要的一环，耦合质量决定着集成硅光芯片上光信号和外部信号互联质量。耦合过程中最困难的地方在于两者光模式尺寸不匹配，硅光芯片中光模式约为几百纳米，而光纤中则为几个微米，几何尺寸上巨大差异造成模场的严重失配。准确测量耦合位置质量及硅光芯片内部链路情况，对硅光芯片设计和生产都变得十分有意义。光纤微裂纹诊断仪（OLI）对硅光芯片耦合质量和内部裂纹损伤检测，非常有优势，可精准探测到光链路中每个事件节点，具有灵敏度高、定位精准、稳定性高、简单易用等特点，是硅光芯片检测不二选择。OLI测试硅光芯片耦合连接处质量使用OLI测量硅光芯片耦合连接处质量，分别测试正常和异常样品，图1为硅光芯片耦合连接处实物图。图1硅光芯片耦合连接处实物图OLI测试结果如图2所示，图2（a）为耦合正常样品，图2（b）为耦合异常样品。从图中可以看出第一个峰值为光纤到硅基波导耦合处反射，第二个峰值为硅基波导到空气处反射，对比两幅图可以看出耦合正常的回损约为-61dB，耦合异常，耦合处回损较大，约为-42dB，可以通过耦合处回损值来判断耦合质量。（a）耦合正常样品（b）耦合异常样品图2 OLI测试耦合连接处结果OLI测试硅光芯片内部裂纹使用OLI测量硅光芯片内部情况，分别测试正常和内部有裂纹样品，图3为耦合硅光芯片实物图。图3.耦合硅光芯片实物图OLI测试结果如图4所示，图4（a）为正常样品，图中第一个峰值为光纤到波导耦合处反射，第二个峰值为连接处到硅光芯片反射，第三个峰为硅光芯片到空气反射；图4（b）为内部有裂纹样品，相较于正常样品再硅光芯片内部多出一个峰值，为内部裂纹表现出的反射。使用OLI能精准测试出硅光芯片内部裂纹反射和位置信息。（a）正常样品（b）内部有裂纹样品图4.OLI测试耦合硅光芯片结果因此，使用光纤微裂纹诊断仪（OLI）测试能快速评估出硅光芯片耦合质量，并精准定位硅光芯片内部裂纹位置及回损信息。OLI以亚毫米级别分辨率探测硅光芯片内部，可广泛用于光器件、光模块损伤检测以及产品批量出货合格判定。

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