2025-01-10 10:53:15OPTM 系列显微分光膜厚仪

OPTM系列显微分光膜厚仪是一款高精度分析仪器，专为测量薄膜材料的厚度及光学特性而设计。它融合了显微技术与分光技术，能够实现对微小区域薄膜的精确测量，同时获取薄膜的折射率、透过率等关键光学参数。该仪器具有测量准确度高、操作简便、非破坏性等特点，广泛应用于半导体、光学元件、涂层材料等领域，为科研、生产和质量控制提供了重要的技术支持，确保了薄膜材料的性能稳定性和可靠性。

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