2025-01-10 17:05:48自原子力显微镜（AFM）

自原子力显微镜（AFM）是一种高分辨率的扫描探针显微镜，用于研究材料表面的纳米级形貌。它通过探测样品表面与微型力敏感元件间的相互作用力，来绘制表面形貌图。AFM具有原子级分辨率，能测量表面的三维形貌、粗糙度、颗粒大小等，适用于导体、半导体及绝缘体等多种材料。在材料科学、纳米技术、生物学等领域有广泛应用，是研究表面微观结构和性质的重要工具。

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