- 2025-03-20 16:16:28STM-TEM光电一体
- STM-TEM光电一体技术结合了扫描隧道显微镜（STM）与透射电子显微镜（TEM）的优势，实现了光电双重探测。它利用STM进行高精度表面形貌探测，同时借助TEM进行内部结构分析，通过光电效应实现样品信息的多维度获取。该技术主要用于材料科学、纳米技术和半导体研究领域，能够揭示材料的电子结构、表面形貌及缺陷信息，为科研和工业应用提供重要支持。
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