2025-02-11 11:47:03高光谱红外成像仪
高光谱红外成像仪是一种集成了高光谱技术与红外成像技术的高端分析仪器。它能够同时获取目标物体在红外波段内的连续光谱信息及空间分布图像,具有高光谱分辨率、高灵敏度、成像速度快等特点。该仪器广泛应用于环境监测、农业遥感、地质勘探、军事侦察等领域,能够实现对目标物体的精确识别与分类,为科研和工业生产提供了强大的红外光谱成像分析手段。

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2025-04-29 16:20:02凝胶成像仪有什么特点
三波长一体化新一代凝胶成像分析系统,专为科研级应用设计,配备了高分辨率的2592×1944像素摄像头和16bit灰阶深度,确保了图像的高清晰度与细腻度。其独特的三波长LED光源(蓝光/紫外/白光)支持多种实验需求,并通过电动控制实现精确调整。内置双核I5处理器、8G内存及256G固态硬盘,配合10寸电容触摸屏,提供快速响应和直观操作体验。智能软件具备全面的图像处理功能,包括1D分析、自动识别泳道和条带等,适用于凝胶电泳结果的分析。该系统结构紧凑且密封良好,防止光泄露,确保了高质量成像效果。产品特点:一体式设计:内置电脑,开机即用,10英寸高清触摸显示屏,操作灵敏。多功能光源:阵列透射式光源排布,提供紫外、蓝光和白光三种波长选择,满足不同样品的需求。高分辨率成像:科研级工业相机,搭配16bit灰阶深度,捕捉细微差异,确保图像质量。自动化程度高:从光源到切胶装置的全自动模块化控制,简化工作流程,提高效率。智能图像处理:内置软件支持丰富的图像编辑功能和1D分析,方便用户进行数据分析。人性化设计:配备自动保存路径设置和多样的图片命名方式,便于管理和组织文件。安全防护:密闭无光泄露暗箱设计,配以开门自动保护系统,保障使用者的安全。
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2023-01-10 13:08:36高光谱遥感数据处理系列(一)高光谱数据读取与可视化
高光谱遥感数据处理系列(一)地表反射的太阳辐射包含着丰富的信息,从太阳外层大气的吸收到地球大气的吸收,经过与地物的相互作用反射回大气,最 终被传感器捕获。高光谱遥感可以在每个像元获取高分辨率的光谱数据,这些光谱信息提供了一种理解事物的新的维度。下图展示了几种典型地物的光谱。可以看出不同地物展现出显著不同的光谱特征。除此之外,同种地物在不同状态下,也可能在特定波段展现出显著不同的光谱特征。通过比对光谱数据,可以实现对地物区分,状态区分,异常监测等难以通过传统遥感手段实现的应用。高光谱遥感被广泛应用于农林业、矿业、环境、保险、等领域。太阳辐射与典型地物反射率通常彩色影像有红绿蓝三个波段,多光谱影像有几到十几个波段,而高光谱影像有着几十到上百个波段。波段的增加除了提高了信息量,还使得数据量成比例增加。这种数据量对计算机的性能提出了较高的要求,更多的是要求对处理者新的思路和方法。在接下来的文章中,我们将详细介绍高光谱数据的处理流程与方法,希望能在此过程中给读者以新的思考。Hyperspectral light sheet microscopy | Nature CommunicationsENVI (The Environment for Visualizing Images) 是美国Exelis Visual Information Solutions 公司的旗舰产品。它是由遥感领域的科学家采用交互式数据语言IDL (Interactive Data Language) 开发的遥感图像处理软件。ENVI已经广泛应用于科研、环境保护、气象、石油矿产勘探、农业、林业、医学、国防&安全、地球科学、公用设施管理、遥感工程、水利、海洋、测绘勘察和城市与区域规划等领域。双击ENVI图标打开ENVI软件,可以看到ENVI软件的主界面由以下六个部分组成:①菜单栏、②工具栏、③图层管理窗格、④图像显示部分、⑤工具箱、⑥状态栏。ENVI软件的布局如图所示,首先点击 依次点击①菜单栏->File->Open,在弹出的对话框中选取所需要的文件, 一般的ENVI文件由两部分组成,文件本体和头文件(.hdr)。文件本体记录了文件的数据信息,而头文件中记录了关于这些数据信息的描述。使用记事本文件可以直接打开hdr文件,可以看到其中包括了:操作记录Samples:栅格列数Lines:栅格行数Bands:波段数Header offset:文件开头到实际数据起始位置的偏移量File type:文件类型Data type:数据存储类型,用数字表示bit位数Interleave:存储顺序Map Info:图像采用的投影系统参数,坐标系统及单位Coordinate System String:详细的坐标系统信息Wavelength:每个波段所对应的波长两个文件应该放在同一目录下面,ENVI在读取时会自动进行关联。    任选其中一个文件都可以打开该文件,但是ENVI对两个文件的处理方式有所不同。如果选择.hdr文件,ENVI会直接载入显示文件的第 一个波段,如下图所示。使用鼠标滚轮可以对图像进行缩放操作,使用②工具栏中的工具可以对图像进行拖动缩放等一系列操作。加载成功的图像会显示在③图层管理区,通过点击图像前面的勾选框来控制图像在④图像显示区的显示与否。使用如果打开文件本体,ENVI会弹出Data Manager窗口 该窗口包含三个部分,分别是①波段信息、②文件信息、③RGB波段选取。①中展示了所有波段的名称,②中是经过处理后的头文件信息,③是进行RGB合成的波段选取,点击三种颜色的方框后,在①中单击选择波段,选择完成后点击Load Data。如果只想要显示一个波段的灰度影响可以在①中选中目标波段后直接点击Load Greyscale。RGB 合成象素值的彩色图,就是将三个波段的数据分别通过红、绿、蓝三个通道加载,然后进行渲染。将多波段影像数据添加到地图中之后,可使用多波段栅格数据集中的任意三个可用波段的组合来创建 RGB 合成图。与仅处理一个波段相比,通过将多个波段共同显示为RGB 合成图通常可从数据集收集到更多信息。来源:简书    通常我们选取650nm、550nm和450nm分别赋给RGB通道进行合成以获得最 佳的显示效果。显示效果如下图:在②工具栏中选择按钮,ENVI会在图上显示框标,并弹出光谱特征(Spectral Profile)窗口。光谱特征窗口中显示了框标中心白点所在像元的光谱曲线。如下图所示:点击光谱特征窗口中的    ,可以对光谱曲线进行一些操作,如平滑,计算NDVI,显示RGB波段所在位置等:小结    本文介绍了高光谱影像的基本原理以及简单的读取及可视化操作。使用ENVI软件可以实现大部分简单的高光谱数据处理。在接下来的教程中,我们将从植被指数提取、高光谱滤波、非监督分类与监督分类等方面介绍ENVI软件的使用。除此以外,我们还将介绍基于Python的高光谱处理,从编程角度介绍高光谱相关知识,以及高光谱数据与大数据处理的结合。参考:【1】百度百科【2】 www.jianshu.com/p/d0765ee89b86
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2023-02-03 15:37:09​高光谱遥感数据处理系列(二)基于高光谱数据的植被指数计算
高光谱遥感数据处理系列(二)反射率与植被指数来自地物反射/发射的光通过镜头被相机捕获,使得传感器被曝光。由于光电效应,传感器上的每个像素传感器上的电荷开始累计。经过相机芯片的转换,这些光信号以数字的形式存储下来,这些数字被称为DN值。辐射亮度 (Radiance),简称辐亮度 , 指面辐射源在单位立体角 、 单位时间内 , 在某一垂直于辐射方向单位面积 (法向面积) 上辐射出的辐射能量 , 即辐射源在单位投影面积上 、 单位立体角内的辐射通量 。辐亮度是最常用的度量光强弱的物理量之一。辐亮度可以进一步用于反射率的计算。DN值可以看作由辐亮度与相机属性主导的变量。去除DN值中由于相机属性引起的变化,将其转化为辐亮度的过程称为辐射定标。通常该过程由相机厂商进行处理,或者厂商会提供用于定标的关键参数。物体反射的辐射能量占总辐射能量的百分比,称为反射率。不同物体的反射率也不同,这主要取决于物体本身的性质(表面状况),以及入射电磁波的波长和入射角度,反射率的大小范围总是小于等于1,利用反射率可以判断物体的性质。在使用无人机进行实际观测时,通常使用地物辐亮度除以白板或反射布所在像元的辐亮度作为反射率。从空间量化植被覆盖、生物化学、结构和功能是研究和理解全 球变化、生物多样性和农业的关键。实际上,遥感在很大程度上依赖于使用源自光谱反射率的植被指数 (Vegetation Indices, VI)。VI 是几个波段反射率的数学变换,旨在最 大限度地提高对特定生物物理现象(例如,绿度、含水量或光合作用活动)的敏感性,同时最 大限度地降低对土壤特性、太阳光照、大气条件和传感器观察等因素的敏感性。典型植物的反射光谱。植物光谱最显著的特这就是红光范围的强吸收与近红外区域的强反射,两个波段之间的快速上升波段称为红边。红光波段的强吸收是由于植被叶绿素的吸收,而近红外波段的强反射是由于植被的叶片结构导致的。通过两个波段进行差分或比值可以凸显出植被在这两个波段的反射特性的差别。同时,差分或比值运算可以去除两个波段中包含的背景信号及噪声。不同的波段或组合形式侧重展现了不同的植被特性。植被指数是对地表植被状况的简单、有效和经验的度量。目前已经出现了上百种不同的植被指数。ENVI中包含了其中7类 27种植被指数。主界面功能区在主界面⑤工具箱中搜索栏中可以方便地对所有工具进行检索,输入 Vegetaton Indices Parameters ,打开该工具如下所示:鼠标单击所需要的植被指数,然后点击 Choose 选择文件的存储位置。此外ENVI还提供了将数据存储到内存的选项 Memeory,但是这些数据在ENVI关闭后会被删除。所以选择存储到内存时,ENVI会弹出二次确认对话框,继续选中Memeory确认即可。ENVI的帮助文件中详细展示了各种植被指数的公式及参考文献。在菜单栏 Help 中打开-> 在左侧 Contents 选项卡中的Vegetation Analysis。关于植被指数的发展和使用场景还可以参考 Xue J, Su B. Significant remote sensing vegetation indices: A review of developments and applications[J]. Journal of sensors, 2017.在获取植被指数后,可以利用这些指数进行地表参数估算或者进一步进行实际应用,ENVI中提供了几种植被指数的实际应用工具,包括林木健康分析(Forest Health Vegetation Analysis)、农作物胁迫(Agricultural Stress Vegetation Analysis)、易燃性分布分析(Fire Fuel Vegetation analysis),以及植被抑 制(Vegetation Suppression)。这些应用工具结合几类不同植被指数对植被进行评估,以林木健康分析为例,首先在主界面⑤中搜索栏中输入 Forest Health Vegetation Analysis ,双击打开林木健康分析工具:该工具通过三类不同的植被指数:绿度指数,叶色素指数,冠层水分或光能利用率指数。ENVI内置了模型进行阈值筛选,综合分析多种指数,将植被的健康状况分为9种。波段运算如果需要使用内置植被指数以外的指数进行运算,可以使用ENVI中的Band Math工具。这里分别对窄波段和宽波段植被指数的计算进行介绍。窄波段归一化植被指数:首先在主界面⑤中搜索栏中输入 Band Math,双击打开波段运算工具:在Band Math中输入所需要的表达式,这里需要注意的是,ENVI默认用b1,b2...来表示不同的变量,比如这里我们用到了两个波段680nm和800nm,分别用变量b1和b2来表示。在Enter an expression中输入(b2-b1)/(b2+b1),点击ok,会弹出变量与实际使用波段的匹配对话框。首先在①中单击选择需要赋值的变量,接下来在②中选择所对应的波段(如果不同波段是分开存储的,选择Map Variable to Input File可以将整个文件赋给某个变量)。在有所变量选择完毕后,点击OK。结果如下图所示:宽波段NDVI:通常机载成像光谱仪的光谱分辨率可以达到亚纳米/纳米级。而常用的卫星数据如Landsat系列和MODIS产品的光谱分辨率较宽,针对这些卫星遥感产品开发的植被指数基本都是宽波段植被指数。为了使用机载成像光谱仪进行宽波段植被指数的计算需要先对波段进行聚合,这里我们以Landsat系列的宽波段为例进行手动宽波段NDVI计算(Vegetaton Indices Parameters中也提供了一些宽波段VI的计算,这里另外介绍手动波段聚合的操作方法)。Landsat 9 的传感器如下所示:Band 1 Visible (0.43 - 0.45 µm) 30-m.Band 2 Visible (0.450 - 0.51 µm) 30-m.Band 3 Visible (0.53 - 0.59 µm) 30-m.Band 4 Red (0.64 - 0.67 µm) 30-m.Band 5 Near-Infrared (0.85 - 0.88 µm) 30-m.在⑤工具箱中搜索栏中Sum Data Parameters,打开波段聚合工具。在①中选择输入文件,然后点击 Spectral Subset ,在弹出的波段选择窗格中,对要进行聚合的波段进行选取(按住Shift进行连续多选,按住Ctrl进行多选)。点击OK进行确认。Sum Data Parameters 提供了多种波段聚合函数,这里选择Mean函数进行聚合。依次对几个波段进行聚合后的,我们得到以下文件。接下来可以用Band Math进行宽波段NDVI的计算,计算方法同上。小结自遥感领域出现以来,植被指数扮演着重要的角色,并且一直在发展完善。本文介绍了反射率和植被指数的概念,植被指数的原理,使用ENVI进行植被指数计算,以及手动窄/宽波段植被指数的计算。了解其背后的植物生理学知识,是正确使用这些指数的必要条件。
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2025-09-02 11:45:22红外静电测试仪怎么用
在现代电子制造和质量检测领域,红外静电测试仪作为一种高效、精确的测试工具,逐渐成为业界的标配设备。其主要作用是检测静电积聚,确保电子产品在生产、组装、使用过程中不会受到静电干扰而引发的故障。凭借红外线技术的温控优势与静电检测的高敏感度,红外静电测试仪在电子元器件、半导体、集成电路等行业的应用日益广泛。如何正确使用红外静电测试仪,发挥其大的性能效益呢?本文将为您详细介绍红外静电测试仪的操作步骤、注意事项以及日常维护建议,助您更科学、更高效地进行静电检测。 了解设备的基本结构是顺利操作的前提。红外静电测试仪通常由红外传感器、静电感应探头、显示屏与调节按钮等组成。红外传感器负责远距离检测静电积累情况,而静电感应探头则主要用于局部检测。熟悉设备参数与功能键设置,是确保操作正确的步。设备出厂时通常配备详细说明书,建议在使用前仔细阅读仪器手册,了解每个操作界面的作用和调节方式。 开始使用之前,先进行设备的校准。校准的流程包括:将测试仪放置在空白、无静电干扰的环境中,通过校准孔进行校准调节,确保检测数据显示的准确性。部分高端设备还支持自动校准程序,操作时只需按下相应按钮,按照提示完成调节即可。在校准完毕后,建议进行一次现场模拟测试,例如放置已知静电量的标准样品,以验证设备的敏感度。 操作步骤的核心在于正确采样。一般情况下,首先需要开启设备,调节到合适的检测模式。对于红外静电检测,通常会设定检测距离,依据不同的测试对象调整距离参数。测试前,确保样品表面和检测区域清洁干净,无尘埃和油脂,以避免误差。将测试探头或检测区域对准目标样品,保持稳定,避免震动。在检测过程中,其显示屏会实时显示静电积累值或热像图,用户应根据具体数值判断静电水平是否超过安全阈值。 对于动态检测,建议采用多点、多角度测试,以确保整体静电状态的全面评估。测试完成后,应及时记录测试数据,便于后续分析和质量追踪。需要注意的是,不同材料和表面处理方式会影响静电积累的表现,应结合实际工艺参数进行判断。 除了操作细节外,设备的日常维护也是保证检测准确性的关键。红外静电测试仪应放置在干燥、阴凉、远离强电磁干扰的环境中。定期清洁探头和传感器表面,避免灰尘和污垢影响检测效果。校准与调试工作应定期进行,尤其是在长时间连续使用后。操作完毕后,应关闭设备电源,防止电池损耗和零部件老化。 在实际应用中,结合其他静电防护措施,将静电测试融入整体生产流程,才能大程度提高电子产品的质量保障。例如,在静电敏感区域加强接地措施,使用静电消除设备,整体防静电环境的建立,也会增强测试结果的可靠性。 总结来说,红外静电测试仪的正确使用不仅仅是操作仪器,更是一项科学严谨的工作流程。的校准、细致的采样以及科学的维护,都是确保检测准确、提高生产效率的重要因素。随着电子行业的不断发展,掌握和优化此类测试仪的操作技术,为产品质量提供坚实的保障,将成为每位技术人员不断追求的目标。 一种设备的优化使用,离不开专业及严谨的操作指导。只有通过不断学习和实践,才能发挥红外静电测试仪大的潜力,为电子制造业的品质提升添砖加瓦。
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2023-07-25 10:40:14半导体和钙钛矿材料的高光谱(显微)成像
目前在光伏业界,正在进行一项重大努力,以提高光伏和发光应用中所用半导体的效率并降低相关成本。这就需要探索和开发新的制造和合成方法,以获得更均匀、缺陷更少的材料。无论是电致还是光致发光,都是实现这一目标的重要工具。通过发光可以深入了解薄膜内部发生的重组过程, 而无需通过对完整器件的多层电荷提取来解决复杂问题。HERA高光谱照相机是绘制半导体光谱成像的理想设备,因为它能够快速、定量地绘制半导体发射光谱图,且具有高空间分辨率和高光谱分辨率的特性。硅太阳能电池的电致发光光谱成像光伏设备中的缺陷会导致光伏产生的载流子发生重组,阻碍其提取并降低电池效率。电致发光光谱成像可以揭示这些有害缺陷的位置和性质。"反向"驱动太阳能电池(即施加电流)会产生电致发光,因为载流子在电极上被注入并在有源层中重新结合。在理想的电池中,所有载流子都会发生带间重组,这在硅中会产生1100 nm附近的光(效率非常低)。然而,晶体结构中的缺陷会产生其他不利的重组途径。虽然这些过程通常被称为"非辐射"重组,但偶尔也会产生光子,其能量通常低于带间发射。捕获这些非常罕见的光子可以了解缺陷的能量和分布。在本实验中,我们使用了HERA SWIR (900-1700 nm),它非常适合测量硅发光衰减。测量装置如图1所示:HERA安装在三脚架上,在太阳能电池上方,连接到一个10A的电源。640×512像素的传感器安装在样品上方75厘米处,空间分辨率约为250微米。图1. 实验装置最重要的是,HERA光学系统没有输入狭缝,因此光通量非常高,是测量极微弱光发射的理想选择。图2.A和2.B显示了两个波长的电致发光(EL)图像:1150 nm(带间发射)和1600 nm(缺陷发射),这是4次扫描的平均值(总采集时间:5分钟)。通过分析这些图像,我们可以看到,尽管缺陷区域的亮度远低于主发射区域,但它们仍被清晰地分辨出来。此外,具有强缺陷发射的区域的带间发射相对较弱。我们可以注意到有几个区域在两个波长下都是很暗的;这可能是由于样品在运输过程中损坏了电池造成的。图2.C中以对数标尺显示了小方块感兴趣区域(图2A和2B中所示)的光谱。图 2.A 和 B:两个选定波长(1150 nm 和 1600 nm)的电致发光(EL)图像。C:A和B中三个不同区域对应的电致发光光谱(图像中的彩色方框)。金属卤化物钙钛矿薄膜的光致发光显微研究通过旋涂等技术含量低、成本效益高的方法,可以制造出非常高效的太阳能电池和LED。这些方法面临的一个挑战是在微观长度的尺度上保持均匀的成分。光致发光显微镜是表征这种不均匀性的一个特别强大的工具。HERA高光谱相机可以连接到任何显微镜(正置或倒置)的c-mount相机端口,并直接开始采集高光谱数据,无需任何校准程序。图3. 与尼康LV100直立显微镜连接的HERA VIS-NIR。在本实验中,我们使用HERA VIS-NIR(400-1000 nm)耦合到尼康LV100直立显微镜(图3)来表征两种卤化物前驱体合金的带隙分布。将两种卤化物前驱体合金化的优点是能够调整材料的带隙;然而,这两种成分经常会发生逆混合,从而导致性能损失。本实验的目的是检测这种逆混合现象:事实上,混合比的局部变化会改变局部带隙,从而导致发射不同能量的光子。在这种配置中,激发光来自汞灯,通过带通滤光片在350 nm处进行滤光,并通过发射路径上的二向色镜将其从相机中滤除。HERA的高通量使其能够在大约1分钟的测量时间内收集完整的数据立方体(130万个光谱)。图4.样品的光谱综合强度图(A:全尺寸;B:放大)。图4.A和4.B分别显示了所有波长(400-1000 nm)总集成信号的全尺寸和放大图像,揭示了长度尺度在1 µm左右的明亮特征。当我们比较亮区和暗区的光谱时(图5.B中的黑色和红色曲线),我们发现暗区实际上也有发射, 不仅强度较低,而且波长中心比亮区短。事实上,光谱具有双峰形状,很可能与逆混合前驱体的发射相对应。图5.A的发射图清楚地显示了带隙的这种变化。我们现在可以理解为什么低带隙区域看起来更亮了--载流子可能从高带隙区域弛豫到那里,并且在发生辐射重组之前无法返回。图5.A:显示平均发射波长的强度图。B:亮区和暗区的发射光谱(正常化)。东隆科技作为NIREOS国内总代理公司,在技术、服务、价格上都具有优势。如果您有任何产品相关的问题,欢迎随时来电垂询,我们将为您提供专业的技术支持与产品服务。
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