2025-01-10 10:53:39TEM/XTEM

TEM/XTEM分别指的是透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope）和X射线透射电子显微镜（X-ray Transmission Electron Microscope，虽然后者更常见的表述是结合了X射线衍射与电子显微镜技术的复合分析方法，但在此按提问要求简述）。TEM利用高能电子束穿透薄样品进行成像，具有高分辨率，可观察样品微观结构。而XTEM技术则结合了X射线的穿透能力与电子显微镜的高分辨率，用于分析样品的更深层次信息及组成，是材料科学研究中的重要工具。

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