逆超短基线 - 产品信息 - 相关知识

2025-01-10 10:50:14逆超短基线: 逆超短基线是一种水下定位技术，它利用多个接收器接收来自同一声源的信号，通过计算信号到达各接收器的时间差来确定声源的位置。与传统的超短基线相比，逆超短基线技术能够实现更高精度的定位，尤其适用于深海或复杂水下环境中的目标定位。该技术广泛应用于海洋科学研究、水下工程探测、水下导航与定位等领域，为水下作业提供了重要的技术支持。

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逆超短基线问答

2025-04-23 14:15:18接触角测量仪基线怎么找: 接触角测量仪基线怎么找在进行接触角测量时，准确地确定基线位置是保证测量结果精度的关键。接触角测量仪通过液滴与固体表面接触后的接触角来评估表面特性，而基线的选择直接影响角度的测定及结果的可靠性。本文将详细讲解接触角测量仪基线的定义、如何寻找基线以及影响基线判断的因素，帮助实验人员提升测量的准确性和稳定性。接触角测量仪基线的概念接触角测量仪的基线指的是在液滴形成的接触角测量过程中，液滴与固体表面相接触的起始位置线。通常，基线的精确度决定了接触角的计算精度，因此找准基线位置是整个测量过程中不可忽视的一步。如何确定接触角测量仪基线液滴稳定性检查基线的准确性通常与液滴的稳定性密切相关。在测量前，首先要确保液滴在表面上的稳定性，避免液滴由于表面张力过大或外界干扰而发生变形。显微镜观察法通过接触角测量仪自带的显微镜系统，可以观察液滴接触点与固体表面的关系。显微镜能够提供高倍放大视野，帮助准确定位基线位置。观察液滴的静态接触状态，确认基线的位置后，再进行数据采集。数字化图像处理现代接触角测量仪常配备图像处理软件，能够自动识别基线位置。该软件通过处理液滴轮廓的图像，精确提取接触点与基线之间的角度。对于一些特殊表面，软件还可调整基线位置，以适应不同的实验环境。环境因素的影响温度、湿度等环境因素对基线的确定也有一定影响。极端环境下，液滴的形态可能发生变化，导致基线的判断出现偏差。因此，在不同的实验条件下，需要根据环境影响重新调整基线的选择方法。使用标定样品通过已知接触角的标准样品进行校准，也是确保基线准确性的有效方式。标定样品的接触角已知，通过对比实验数据，可以验证和调整基线位置。基线选择对测量结果的影响基线的选择不仅关系到接触角的精度，还直接影响后续表面能的计算。如果基线位置确定不准确，测量的接触角会偏差，从而影响对表面特性，如润湿性、粗糙度等的评估。因此，精确选择基线是任何接触角测量中至关重要的步骤。结语接触角测量仪的基线确定是影响测量精度的关键因素，精确判断基线位置是进行表面性质分析的基础。通过合理的方法和仪器辅助，可以有效提升接触角测量的可靠性，为科学研究和工业应用提供有力的数据支持。在实际操作中，细致入微的操作和科学的校准方法是保证测量准确性的核心。

2023-06-25 13:37:42基线波动、背景噪音过大，大容量气体过滤器快速消灭烦恼: 气相色谱分析中，气体纯度对结果至关重要，而气体过滤器系统可提供洁净的气体，降低色谱柱损坏、灵敏度损失及仪器停机的风险。在仪器入口之前加装气体过滤系统，可以大大减少杂质水平，有效改善背景噪音过高和波动问题（图一），提高痕量分析性能，也可以减少进入气相色谱柱的污染物，这对于高温下分析和延长色谱柱寿命而言至关重要。图一赛默飞明星产品——超净筒式过滤器输出气体纯度可达到99.9999%，最大耐压可达到11bar（160psi），最大流速为7mL/min，高灵敏度的指示剂为您的仪器提供最大程度的保护。其中除水、氧、烃三合一型过滤器备受气质客户青睐。指示剂颜色变化如下图：为满足单气相色谱分析客户的需求，今年赛默飞又新推出了N2预处理除水氧烃三合一超大容量气体过滤器60180-895N产品优势1、更大容量去除气相色谱载气中水分，烃类化合物，氧气。最大容量可除去35g 水分，60g 烃类化合物，1000ml 氧气。与其他厂家相比，去除烃类化合物的容量更大，背景更低自动开关接头，连接简单，无需扳手Click-On 在线大容量通用型气体捕集阱采用手拧自动开关接头，当接头与捕集阱断开时，接头自动关闭，避免气体泄漏；而且过滤器在更换安装过程中，无需使用扳手，操作更方便，更迅速最大程度保护您的气相流路2、安装指南1. 确认气体管线的材质及尺寸，不锈钢或者黄铜，1/4或者1/8英寸，选择合适的快装连接器（可重复利用），关闭载气，用7/16和9/16扳手安装在载气管路中。打开载气，按压针阀用载气吹洗连接器约60s2. 按照过滤器筒体的气体流速标识（GAS FLOW），逆时针旋出入口处蓝色旋塞，插入快装连接器顺时针旋转滚花环至拧紧3. 调整过滤器位置使之垂直放置并固定，以便使载气和吸附剂充分接触4. 用检漏仪（PN：66002-004）检查连接口出是否漏气3、维护建议建议每年更换一次过滤器，或者过滤器后面串联带指示剂的超净筒式过滤器，例：60180-824+60180-814（第一次安装需配置底座60180-814），按照指示剂按时更换定期检查快装连接器端的大小O型圈（PN：60180-833）是否有裂痕，防止漏气导致对气相色谱仪和色谱柱的损害扫码下载详细安装指南福利来啦！买60180-895N，赠送最高价值￥3598元气体过滤器接头一套，另赠送赛默飞专属礼品一件✦ 促销规则：购买60180-895N的新用户，每台仪器赠送接头一套（4选1），不限仪器品牌✦ 促销时间：2023.03.01-2023.08.31

2020-08-07 14:46:19荧光检测器基线下降是什么原因？: 荧光检测器基线下降是什么原因？

2020-07-08 10:14:59『重磅新品』Wasatch Photonics逆天出新——1: 近日，Wasatch Photonics，Inc推出了全新的1600 nm OCT光谱仪可用于深层组织，SD-OCT成像。在Wasatch Photonics公司拥有多达25个型号的OCT光谱仪中，波长涵盖了可见光、800 nm、1050 nm和1300 nm，其扫描频率高达250 kHz。新推出的1600 nm，为高散射组织和材料，在高对比度条件下，提供了更大的穿透深度，可以广泛适用于心脏病、神经科、皮肤科、牙科学和无损检测。当用于频率光学相干断层扫描（SD-OCT）或光学相干显微镜（OCM）时，Cobra 1600 OCT光谱仪利用以1570 nm为ZX的240 nm带宽来实现高轴向分辨率。对于高散射性和低含水量的样品，在不明显降低对比度或分辨率的情况下，Cobra 1600的深度穿透力比1300nm高25%。Cobra 1600 OCT有76kHz和147 kHz的线扫描率型号可选，重量仅为1.4公斤，利用Wasatch Photonics的快速访问软件开发工具包，用户通过C++，LabVIEW和MATLAB，可以轻松读取光谱仪的相机数据。作为Wasatch Photonics的OCT光谱仪生产线的一部分，Cobra 1600 nm采用了一种GX的光学设计，该设计基于该公司ZL的OCT光栅，可实现高灵敏度和低滚降。Wasatch Photonics还提供定制服务，可以为您定制其它带宽、ZX波长的光谱仪。与1300 nm OCT相比，使用1600 nm的SD-OCT进入了一个独特的波长区域，能够深入到具有高散射功率和低含水量的样品中，例如富含脂质的组织、牙齿结构，甚至油漆和橡胶。该波长的图像退化受多重散射效应的影响较小，并且在吸水率的情况下能穿透更深，同时在样品含水量低或脂类含量高的情况下仍能提供出色的对比度。这使得1600 nm特别适合于海马结构的研究、动脉粥样硬化斑块和其下脂质池的特征、龋齿分析和涂层无损成像等应用。活体小鼠大脑光学相干显微成像。光学相干显微镜(OCM)在连续3个深度拍摄面部图像，成像NA = 1。由康奈尔大学的Steven Adie提供。Wasatch Photonics的CEO Dr. David Creasey说：“随着全世界OCT研究人员开始返回实验室，我们觉得为他们提供高质量、现成的OCT光谱仪比以往任何时候都更加重要，从而可以满足他们的应用需求，并加快他们的研究工作。”,“这个1600 nm的型号涵盖了其它SD-OCT光谱仪制造商所没有覆盖的领域，并扩充了我们现有的OCT解决方案，能为从可见光到近红外波段的研究，进行OEM。如果Cobra 1600可以节省6个月的开发时间，甚至可以为一个研究小组捕捉到更好的图像，以进一步了解大脑或心脏动脉中受损斑块的形成，那么我们已经做了我们打算做的事情。”Wasatch Photonics新推出的Cobra 1600 OCT光谱仪，为高散射样品或富含脂质的组织提供了优质的深度穿透和增强的图像对比度。提供了240 nm带宽和两种线扫描速率的相机选择，并可以根据带宽的要求进行定制。与公司已有的其他OCT光谱仪系列一样（包括可见光、800 nm、1050 nm和1300 nm波长），Cobra 1600既有标准型号，也可定制OEM光谱仪模块，非常适用于研究和工业应用领域。型号C1600-1570/240-76-SG2KC1600-1570/240-147-SG2K成像深度6.5 mm波长范围1450-1690 nm带宽240 nm光谱分辨率0.12 nm线扫描速率76 kHz147 kHz像素2048接口类型Camera Link产品尺寸9.5 x 19 x 6 cm产品重量1.4 kg

2019-08-22 14:08:03综合热分析仪TGA实验的基线和校验分析: 综合热分析仪的热分析技术是表征材料的性质与温度关系的一组技术，它在定性、定量表征材料的热性能、物理性能、机械性能以及稳定性等方面有着广泛地应用，对于材料的研究开发和生产中的质量控制都具有很重要的实际意义。热重分析法（TGA）是应用Z广泛的热分析技术之一。　　TGA实验的基线和校验：　　硬件的设计并不能保证试验结果的准确，由于气体温度变化（进而造成密度变化，使得样品表观增重）和设备升温造成传热速率变化等造成的系统误差是无法避免的。这要是通过基线和校验进行。基线主要是消除试验过程中由于气体温度变化等原因而产生的误差，校验则是消除由于仪器在使用过程中由于电子组件的变化而产生系统误差所采取的手段。这两种手段也是通过试验进行，结果一般是产生基线文件和校验文件，基线测定时，所有参数均应该与用样品试验时的状态一致（包括校验，温度程序，气氛，坩锅状态等；当然坩锅中没有样品，即样品质量为0），得到一个基线文件。原则上说，每一次试验前都要求进行基线的测量，因为TGA的坩锅（铂金）不是易耗品，每用一次，它的质量、形态等都有微小变化，基线文件也会有所变化，这都会对试验结果产生影响，但是在实际使用中，一个基线文件往往可以使用一定的次数。TGA的校验包括质量校验和温度校验，质量校验采用1g的标准砝码进行，校验是通过硬件进行，不产生校验文件。温度校验采用标样进行，已知标样的磁转变温度（居里转变温度），在按照一定的试验程序测定这一温度，实测温度与已知温度有一定的差异，通过公式计算，产生一个校验文件。温度校验一般4-6个月进行一次即可，质量校验由于方便进行，可随时进行。在进行样品的试验时，在处理数据时，通过这两个文件对数据进行处理，从而得到准确的试验结果。　　在试验中，基于不同的目的，可以编制不同的试验程序程序，主要变化包括：测试类别、气氛、数据采集方式、温度程序等。（来源：北京恒久实验设备有限公司）

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