四象限器件 - 产品信息 - 相关知识

2025-01-10 17:04:57四象限器件: 四象限器件是一种光电位置敏感器件，它基于横向光电效应原理工作。该器件将光信号转换为电信号，能够精确测量入射光斑在其感光面上的位置变化。由于其具有灵敏度高、响应速度快、线性度好等特点，四象限器件在光电跟踪、位置测量、自动对准等领域得到了广泛应用。

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Mirrorcle MEMS扫描镜技术概述（2）

今天，在MEMS镜面行业的产品中，所有设备类型都提供四象限(4Q)光束转向能力，通常允许整体更大的总尖duan/倾斜角度(两个轴)。

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2022-06-22
Mirrorcle MEMS扫描镜技术四象限器件

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: 1064nm 四象限探测器; 国内北京; 面议; 北京先锋泰坦科技有限公司
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: Modbus通讯，四象限电能三相电能表; 国内江苏; ￥980; 上海安科瑞电源管理系统有限公司
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: 四象限捕获光电探测接收模块 1000-1650nm; 国内上海; 面议; 筱晓（上海）光子技术有限公司
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: 1064nm 四象限Si光电探测器(N型硅象限探测器光敏面直径 10mm,直流响应度 0.3A/W); 国内上海; 面议; 筱晓（上海）光子技术有限公司
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: 1064nm 四象限Si光电探测器(N型硅象限探测器光敏面直径 16mm,直流响应度 0.3A/W; 国内上海; 面议; 筱晓（上海）光子技术有限公司
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四象限器件问答

2023-08-30 09:13:57为何称呼为源表？源表是如何四象限工作的？: 为何称呼为源表？“源”为电压源和电流源，“表”为测量表；“源表”即指一种可作为四象限的电压源或电流源提供精确的电压或电流，同时可同步测量电流值或电压值的测量仪表。（恒流源时测电压，恒压源时测电流）数字源表功能：①集合电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载的功能于一身，广泛用于各类精密器件的测量。②四象限工作，可作为源或负载四象限工作，可以作为源或负载电源象限是指以电源输出电压为X轴、输出电流为Y轴形成的象限图。第一、三象限即电压电流同向，源表对其它设备供电，称为源模式；第二、四象限即电压电流反向，其它设备对源表放电，源表被动吸收流入的电流，且可为电流提供返回路径，称为阱模式。在选择源表时，需要先确认待测DUT的电流电压Z大范围，以此为参照来选择源的输出范围,这个输出范围是指源表对外输出恒定电压电流的功能范围，这里需要注意，由于源表有总功率的限制，其输出不能同时达到电流输出和电压输出的Z大值。源表采用四象限工作模式，当电压、电流均为正时，工作在第一象限;当电压为负、电流为正时，工作在第二象限;当电压、电流均为负时，工作在第三象限;当电压为正、电流为负时，工作在第四象限。以SiC、GaN为代表的第三代半导体材料，具备高禁带宽度、高热导率、高击穿场强、高电子饱和漂移速率等特点，在没有自热效应的情况下测量半导体器件的真实状态至关重要。脉冲表征是自热效应的有效解决方案，通过短时间通电(脉冲)来降低温升对半导体性能的影响，进而得到更真实的数据，实现更快速和更晶准的测量。对于高速数字化或波形采集的应用场景，脉冲测试具有更高的分辨率,可以做到更优的采样性能,在同等带宽下可获得更精确的瞬态特性,是波形捕获和瞬态特性应用的理想选择。功率器件测试HCPL100型高电流脉冲电源

2025-02-19 12:45:12片剂四用测定仪多少钱: 片剂四用测定仪多少钱？在制药行业中，片剂四用测定仪作为一种重要的质量控制工具，广泛应用于药品生产和研发的各个环节。它的主要功能是通过测量片剂的各种物理参数，如硬度、崩解时间、溶出度等，确保药品质量符合标准要求。许多制药公司和实验室都需要使用这一设备进行高效、准确的测试，以保证药品的品质和安全性。本文将探讨片剂四用测定仪的价格因素，帮助读者了解不同型号和功能的测定仪如何影响市场价格，以及选择时应关注的关键要素。片剂四用测定仪的价格受多种因素影响。设备的品牌和制造商是影响价格的重要因素之一。一些知名品牌因其高质量和精密度，往往定价较高。测定仪的功能多样性也会直接影响其价格。例如，具备更高精度、更广泛测试功能（如硬度、崩解、溶出度及粉末流动性测试）的设备，通常比基础功能的测定仪价格更高。设备的自动化程度也是价格差异的一个关键点，全自动设备相比于手动或半自动设备，通常价格要贵一些。再者，片剂四用测定仪的价格还与设备的技术规格、生产工艺以及售后服务等因素相关。在选择片剂四用测定仪时，制药企业除了关注价格外，还应充分考虑设备的稳定性、操作便捷性以及维护成本等因素。企业应根据自身的生产需求和预算，选择合适的设备类型。对于初创企业来说，选择功能较为基础且价格适中的设备可能是一个不错的选择，而对于大规模生产线而言，投资功能齐全、自动化程度高的设备将能提高生产效率并降低人为误差，长期来看能够带来更多的回报。总体而言，片剂四用测定仪的市场价格差异较大，从几千元到数万元不等，消费者应结合具体需求进行合理选择。确保设备在提供准确测量的还能具备良好的性价比，是每个制药企业在采购时必须考虑的核心要素。

2023-02-01 14:56:12蔡司激光共聚焦显微镜-微纳器件的表征分析: 对微纳器件进行表征时，常关注的便是器件的表面形貌和三维尺寸信息，比如粗糙度、深度、体积等，这些都是评价微纳加工工艺的重要指标。然而，在进行表面三维的分析工作中，我们可能常遇到这样的苦恼：　　光学明场无法直接定位到亚微米级缺陷结构!　　样品结构太复杂，微弱信号无法捕获，难以准确测量尺度信息!　　三维接触式测量经常会损伤柔软样品，导致测试结果不准确!　　今天，友硕小编将从下面几个角度来看看蔡司激光共聚焦显微镜如何帮助你更好地解决这些问题。　　失效分析：多尺度多维度原位分析!　　器件表面往往存在一些特殊的结构或缺陷，比如亚微米尺度的划痕，这些特征难以在光学明场下被直接观察到。C-DIC(圆微分干涉)观察模式可以让样品表面亚微米尺度的微小起伏都可以呈现出浮雕效果，帮助我们快速定位并开展下一步的分析工作。　　▲ 不同观察方式下晶圆表面缺陷　　在定位到感兴趣区域后，可以直接切换到共聚焦模式，进行表面三维形貌扫描，并进行尺寸测量及分析，无需转移样品即可完成样品多尺度多维度的表征。　　▲共聚焦三维图像及深度测量　　对于某些样品，暗场和荧光模式也是一种很好定位方法，表面起伏的结构在暗场下尤其明显，如蓝宝石这类能发荧光的晶圆，利用荧光成像也能帮助我们快速地定位到失效结构。甚至，共聚焦还可以和电镜或者双束电镜(FIB)(点击查看)实现原位关联，在共聚焦显微镜下进行定位后转移样品到电镜下进行更高分辨的表征分析。　　深硅刻蚀：结构深，信号弱，蔡司激光共聚焦显微镜有办法!　　深硅刻蚀的样品通常为窄而深的沟壑结构。接触式测量(如台阶仪)无法接触到沟壑底部测得信息，而由于结构特殊造成了反射光信号损失，常规白光干涉或者显微明场无法捕获底面的微弱信号。因此，不得不对样品进行裂片分析，这不仅破坏了样品，而且还使分析流程复杂化。　　西湖大学张先锋老师用蔡司激光共聚焦显微镜对深163.905 μm，宽3.734μm的刻蚀坑进行成像，高灵敏探测器、大功率激光及Z Brightness Correction技术可以帮助成功检测到底部的微弱信号，完成大深宽比(近50：1)样品的三维形貌表征与测量，轻松实现无损检测分析。

2022-10-27 09:40:27四合一气体报警仪ex是什么意思？: 四合一气体检测仪目前应用十分广泛，主要是通用的四种气体组合：可燃气、氧气、一氧化碳和硫化氢，它适用于地下管道、矿井等工业场合。使用四合一气体检测仪可以提前预知待测环境种的气体浓度值是否超标，是否需要提前采取积极措施来保证人们生命财产安全。那么，四合一气体报警仪ex是什么意思？这得分情况来看。EX在气体中表示为可燃气体，例如：甲烷、沼气、乙醇等都属于可燃气体。如果是产品外壳或者包装上的标签，则表示防爆的意思。但是，如果EX在报警仪的显示屏上显示则表示可燃气体，也就是可燃易爆气体，一般会有%LEL作为测量单位。四合一气体报警仪ex是什么意思？想必大家已经有所了解。北京中恒安是专业从事可燃气体报警器、可燃气体探测器、气体检测报警器、安全环保检测仪器和个体防护设备开发、生产和销售的技术企业，产品广泛应用于冶金、石油、化工、电力、矿山、市政、交通、消防及环保等领域。

2022-12-05 13:11:13TOF-SIMS在光电器件研究中的应用系列之三: 一、引言光伏发电新能源技术对于实现碳中和目标具有重要意义。近年来，基于有机-无机杂化钙钛矿的光电太阳能电池器件取得了飞速的发展，目前报道的最高光电转化效率已接近26%。卤化物钙钛矿材料具有无限的组分调整空间，因此表现出优异的可调控的光电性质。然而，由于多组分的引入，钙钛矿材料生长过程中会出现多相竞争问题，导致薄膜初始组分分布不均一，这严重降低了器件效率和寿命。图1. 钙钛矿晶体结构二、TOF-SIMS应用成果由于目前用于高性能太阳能电池的混合卤化物过氧化物中的阳离子和阴离子的混合物经常发生元素和相分离，这限制了器件的寿命。对此，北京理工大学材料学院陈棋教授等人研究了二元（阳离子）系统钙钛矿薄膜(FA1-xCsxPbI3，FA：甲酰胺)，揭示了钙钛矿薄膜材料初始均一性对薄膜及器件稳定性的影响。研究发现，薄膜在纳米尺度的不均一位点会在外界刺激下快速发展，导致更为严重的组分分布差异化（如图2所示），最终形成热力学稳定的物相分离，并贯穿整个钙钛矿薄膜，造成材料退化和器件失活。该研究成果以题为“Initializing Film Homogeneity to Retard Phase Segregation for Stable Perovskite Solar Cells”发表在Science期刊。[1]图2. 二元 FAC 钙钛矿的降解机制。（A-H）钙钛矿薄膜的组分初始分布和在外界刺激下的演变行为。（I-N）热力学驱动下，钙钛矿薄膜的物相分离现象的TOF-SIMS表征TOF-SIMS作为重要的表面分析方法，具有高检测灵敏度（ppm-ppb）、高质量分辨率(M/DM>16000)和高空间分辨率(16000)和高空间分辨率(