赛默飞ELEMENT 2/XR是高分辨率电感耦合等离子体质谱仪(HR-ICP-MS),作为赛默飞世尔旗舰质谱产品,核心优势在于可变分辨率模式(低/中/高)精准分离质谱干扰,结合高灵敏度进样系统与低背景噪声设计,实现痕量/超痕量元素及同位素的高精度分析,广泛覆盖环境、地质、生物医药、半导体等领域。
解决环境样品中同量异位素干扰(如Ar⁺干扰⁴⁰Ca、ClO⁺干扰⁵¹V),实现痕量污染物的低检出限检测与溯源。
高同位素比值精度(适用于U-Pb、Lu-Hf等定年体系),支撑地质年代测定与成矿机制研究。
生物样品基体耐受(无需复杂前处理),可直接分析体液、细胞等复杂样品中的痕量金属。
电子级材料中ppt级(10⁻¹²)痕量金属杂质检测,保障半导体器件良率。
赛默飞ELEMENT 2/XR HR-ICP-MS凭借高分辨率干扰分离、高灵敏度与高精度同位素分析能力,成为多行业痕量检测的核心平台,为实验室提供可靠、精准的分析数据支撑。
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赛默飞ELEMENT 2/XR HR-ICP-MS
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