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赛默飞 ARL EQUINOX 3000 X射线衍射仪参数

来源:赛默飞化学分析仪器 更新时间:2026-04-09 17:15:05 阅读量:19
导读:赛默飞ARL EQUINOX 3000是一款面向实验室高通量分析与工业质检的高性能台式X射线衍射仪(XRD),依托高分辨率测角仪与高速阵列探测器技术,兼顾分析精度与效率,广泛应用于材料科学、地质勘探、制药及工业质检等领域。

赛默飞ARL EQUINOX 3000是一款面向实验室高通量分析与工业质检的高性能台式X射线衍射仪(XRD),依托高分辨率测角仪与高速阵列探测器技术,兼顾分析精度与效率,广泛应用于材料科学、地质勘探、制药及工业质检等领域。

一、核心技术参数

  • X射线源:Cu Kα辐射(λ=1.5418 Å),密封式X射线管,最大功率3kW(40 kV/30 mA),具备自动功率调节与过载保护功能;
  • 测角仪系统:θ-θ耦合配置,2θ扫描范围0.5°~160°,步长最小0.001°,角度重复精度±0.0001°,轴稳定性≤0.0002°/h;
  • 探测器:PixCel 1D高速阵列探测器,有效计数率≥1×10⁶ cps,能量分辨率≤20%(@5.9 keV),动态范围10⁴;
  • 样品台:自动换样器支持20位样品(最大尺寸φ25 mm×10 mm),具备样品高度自动校准与旋转功能;
  • 数据采集:扫描速度最高可达100°/min(传统单点探测器仅1°/min),常规物相分析单次耗时5~10 min;
  • 环境控制:内置恒温系统(18~25℃±0.5℃),降低温度波动对衍射峰位的影响。

二、关键性能特点

  • 高速与高分辨平衡:阵列探测器替代传统单点探测器,数据采集速度提升5~10倍,同时保持≤0.02°(2θ)的峰位分辨率,满足精密分析需求;
  • 全自动化操作:从样品加载、角度校准到数据处理全流程自动化,支持24 h无人值守运行,单日可处理≥200个样品;
  • 多应用扩展:可选配小角度散射(SAXS)附件、高温/低温样品台(-196℃~1200℃)、织构分析附件,覆盖物相鉴定、晶粒尺寸(Scherrer公式)、应力测定(sin²ψ法)等场景;
  • 数据可靠性:内置Pearson VII峰拟合算法,峰位与强度精度分别达±0.005°(2θ)与±1%,符合ASTM E1245、USP<941>等标准。

三、典型应用场景

  • 制药行业:药物晶型分析(检测多晶型、溶剂化物),符合USP<941>与ICH Q6A标准,可精准区分α/β晶型;
  • 材料科学:金属合金相分析(如不锈钢σ相检测)、陶瓷纳米晶粒尺寸计算(Scherrer公式精度≤1 nm)、高分子结晶度测定;
  • 地质勘探:矿物定性/定量分析(黏土矿物、碳酸盐岩),Rietveld全谱拟合定量误差≤5%;
  • 工业质检:半导体薄膜取向分析、钢铁表面残余应力检测(精度≤10 MPa)、电池材料(LiFePO₄)物相纯度分析。

该仪器凭借稳定性能与灵活扩展性,成为实验室高通量分析与工业在线质检的核心工具之一。

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