闪烁体研发避坑指南 | Lexsyg RL 测试揭示 BiPO:Ce 的致命缺陷

通过Lexsyg光谱仪的RL测试模块（40 kV X射线激发），研究团队发现：

1）Ce3?在X射线激发下完全不发光（图2），而Bi3?扰动态主导630 nm发射；

2）发光强度仅为BGO闪烁体的0.015%，证明其不适合作为Ce3?闪烁体材料。

图2 RL光谱揭露Ce3?猝灭现象

研究团队对比近20篇争议文献，首次指出：

1）过往报道的“Ce3?在352–459 nm发光”实则为MMCT或缺陷发光；

2）真实Ce3?发光位于445/490 nm双峰（△E=0.26 eV，符合自旋轨道劈裂）。

1）多模式联用：结合PL（光致发光）、PLE（激发光谱）、RL（辐射发光）全面分析；

2）高精度RL测试：通过连续X射线激发（钨靶，40 kV/1 mA），模拟闪烁体真实工况；

3）超低温探测：-80°C冷却CCD大幅降低噪声，捕获弱发光信号。

本研究不仅解决了BiPO?的发光争议，更展示了Freiberg Instruments Lexsyg Research先进释光光谱技术对材料研究的核心价值：“Lexsyg的RL测试证明，BiPO?中空穴被Bi3?局域化捕获，导致Ce3?无法参与闪烁发光。”

在材料科学飞速发展的今天，精准的表征工具是科研突破与产业升级的 “基石”。Freiberg Instruments Lexsyg Research 以其 “高稳定、高灵敏、高精准” 的核心优势，已成为全球众多顶尖科研机构（如 Clemson University）与企业的首选放射发光测试设备。

无论您是从事闪烁体研发、稀土材料表征，还是光催化研究，Lexsyg Research 都能为您提供“从数据到结论” 的可靠支撑，助力您的研究更快出成果、产品更快推向市场。

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