告别手动计算！速德瑞TS280统计模式，让紫外均匀度检测更高效

在紫外测量领域，均匀度是衡量某一平面/空间内紫外辐照强度分布一致性的核心技术指标，直接决定紫外设备的应用效果，如固化均匀性、杀菌彻底性、检测准确性。这一核心技术指标在多个行业规程中有着明确且量化的标准要求，用精准数据划定合规边界。例如,《JJF 1525-2015 氙弧灯人工气候老化实验装置辐射照度参数校准规范》要求使用多点测量方式时平面内辐照度均匀性≥90%,《JJF(津)103-2023 光照紫外试验箱校准规范》在计量特性中明确指出紫外辐照度均匀度≥80%，《GB 28235-2020紫外线消毒器卫生要求》规定了以多测点均值为基准紫外辐照计均匀性≥95%等。这些具体数据不仅为设备研发、生产检测提供了刚性依据，更直接决定了材料耐候性测试的可靠性、医疗的安全性以及工业生产的良率水平，成为紫外技术应用中不可逾越的量化准则。

由于不同应用场景对均匀度的评估重点、精度要求及行业标准存在差异，行业内形成了三种具有明确适用范围的计算方法。

科学的计算公式为紫外测量提供了量化依据，进而指导光源设计、测试流程与设备校准的优化。事实上，均匀度数值并非仅由计算公式决定，而是光源特性、测试条件与检测设备性能等多方面因素共同作用的结果。

l 光源特性

点光源（如卤素紫外灯）均匀度最差，面光源（如LED面阵、准分子灯）天生更优；光源涂层、电极对称性、芯片排布，甚至老化程度，都会导致能量分布不均。

l 光学与结构设计

反光罩类型（漫反射罩更均匀）、匀光片使用、光源排列方式（多灯交错布局）、光源与工作面距离，都会显著影响最终均匀度。

l 环境与传播条件

空气中的灰尘、水汽、臭氧（尤其短波紫外）会吸收散射光线；周围反光物体产生的杂散光，也会破坏均匀度。

l 测量系统

辐照计探头的涂层均匀性、封装结构，以及测量网格密度、探头对准精度，都会影响均匀度测量结果的准确性。

速德瑞TS280系列紫外辐照计的统计模式，为高效、精准的均匀性评估提供了一站式解决方案。作为工业级紫外检测设备，TS280深度适配不同场景的评估需求，其均匀度模式不仅预设了国标推荐的小/平均比值法、波动修正法等核心算法，支持用户根据测试目的自主选择，还能通过2048次/秒的超快采样速度，自动统计测试区域内的最大、最小及平均辐照度，实时输出均匀度数值，无需手动计算。配合主机与探头分离的即插即用设计、10亿超大量程自动切换及数据导出功能，TS280可轻松应对实验室精密校准、工业生产检测、消毒设备验收等多场景需求，既解决了传统手动计算效率低、易出错的问题，又通过溯源校准的探头与符合国标检定规程的设计，确保均匀度数据的权威性与可重复性。