赛默飞 ARL X'TRA Companion高阶常规分析型台式 X 射线衍射仪（XRD）特点

针对实验室常规物相分析、质量控制与基础科研需求，赛默飞推出的ARL X'TRA Companion台式XRD，以平衡的性能、紧凑设计与易用性，成为多行业从业者的核心工具。以下从技术参数、应用场景与用户价值展开专业分享。

一、核心技术参数与性能优势

这款仪器聚焦常规分析的精准性与效率，关键参数如下：

• X射线源：Cu靶（Kα=1.5418Å），最大功率100W，高压/电流稳定度分别达±0.005%、±0.01%，确保射线强度长期稳定；
• 探测器：高灵敏度Si-PIN探测器，5.9keV下能量分辨率<140eV，最大计数率1.2×10⁶ cps，死时间自动修正，兼顾低背景与高灵敏度；
• 衍射角范围：2θ覆盖0.5°~160°，步长可调0.001°~2°，扫描速度0.1°/min~60°/min，适配低角度薄膜到高角度晶体分析；
• 样品适配：标准φ25mm样品座，可选12位自动交换器，支持粉末、块体、薄膜（含掠入射）、液体（专用池）等多种样品；
• 稳定性：可选±0.1℃温度控制，2θ长期漂移<0.015°/h，短期重复精度<0.003°，满足长期检测一致性要求。

二、典型行业应用场景

结合不同领域需求，这款仪器的核心应用包括：

1. 材料科学：
   • 晶体相鉴定：匹配JCPDS数据库快速识别陶瓷、合金、半导体晶相；
   • 纳米表征：Scherrer公式计算1~100nm晶粒尺寸，Williamson-Hall法分析应变；
   • 相定量：Rietveld精修实现多相样品定量（误差<5%）。
2. 工业质量控制：
   • 药品晶型：符合USP<941>、EP<2.9.33>，鉴定药物多晶型（如晶型I/II）；
   • 催化剂：表征γ-Al₂O₃载体晶相变化，分析活性组分分散度；
   • 建材：水泥熟料C₃S/C₂S定量，混凝土水化产物分析。
3. 科研基础研究：
   • 薄膜分析：θ-2θ扫描测10nm~10μm薄膜厚度，GIXRD测薄膜结构；
   • 地质样品：矿物相（石英、长石）鉴定与岩石物相定量。

三、行业适配性与用户价值

• 紧凑设计：占地面积0.8m²（750×600×500mm），无需专用实验室，适合桌面部署；
• 高效操作：ARL IntelliSuite软件支持一键分析，数据导出Excel/CSV，便于报告生成；
• 合规性：数据可追溯，符合ISO 17025、GLP/GMP要求，满足实验室认可；
• 售后保障：赛默飞全球服务网络，国内48h响应，提供校准、维修与应用支持。

赛默飞ARL X'TRA Companion以“精准、高效、适配”为核心，覆盖实验室常规XRD分析全场景，是材料、制药、建材等行业从业者的可靠工具。