安东帕Abbemat WR数字式自动折光仪

　　仪器简介：

　　- Z高精度和准确度的折光指数仪

　　- **使用双快速帕尔帖(Peltier)半导体控温技术的折光仪

　　- 独特的全光反射测量原理，不受样品颜色和浊度的干扰，准确稳定测定深色样品折光率

　　- LED光源，平均寿命100000小时。不需要任何耗材，免维护。

　　技术参数：

　　- 折光指数范围:1.30 - 1.72 nD

　　- 极ng确度:1 x 10-6 nD

　　- 准确度:4 x 10-5 nD

　　- 波长:运用干涉滤片极ng确的调整为 589.3 nm±0.1 nm(钠D)

　　- 内置Peltier 半导体恒温控制器，标准控温范围10-70℃，可选控温范围10-110℃，精度0.01 °C，控温准确度(±0.03 °C), 温度稳定性0.002℃。

　　- LED光源，平均寿命≥100000小时。

　　- 独特的全光反射测量原理，不受样品颜色和浊度的干扰，准确稳定测定深色样品折光率。

　　- 使用双快速帕尔帖(Peltier)半导体控温技术的折光仪。其中一个帕尔帖(Peltier)恒温控制样品的温度，另一个帕尔帖(Peltier)恒温控制光电测量系统温度恒定，使其不受测量与周围环境温度的影响。

　　- 棱镜材质：YAG (用于激光发生器的钇铝石榴石)，接近钻石硬度。

　　- 根据不同应用，配置大量样品的流动进样装置(悬浮液样品专用组件)及固体样品专用组件.

　　- 防水型不锈钢外壳，耐大多数化学品腐蚀。

　　- 多种操作模式：PC 电脑操作或与Anton Paar 数字式密度仪联用操作均可。

　　- 强大的延伸测量，如Brix，Glucose， Fructose，Invert Sugar，Salinity等21种测量方法。

　　- 免维护

　　主要特点：

　　- Z高精度和准确度的折光指数仪

　　- **使用双快速帕尔帖(Peltier)半导体控温技术的折光仪

　　- 独特的全光反射测量原理，不受样品颜色和浊度的干扰，准确稳定测定深色样品折光率

　　- LED光源，平均寿命100000小时。不需要任何耗材，免维护。