赛默飞 iCAP PRO XP ICP-OES系统参数

核心系统设计特点

赛默飞iCAP PRO XP ICP-OES针对复杂样品分析的行业痛点，采用双向观测+高分辨率光学+CID检测器的核心架构，解决传统ICP-OES灵敏度不足、基体干扰严重、动态范围窄等问题：

• 水平炬管设计：减少炬管积盐，提升等离子体长期稳定性；
• 双光栅自动切换：1800 g/mm（宽波长覆盖）与4320 g/mm（高分辨率）适配不同元素分析需求；
• CID-14检测器：无电荷溢出效应，动态范围达10⁹，支持连续8小时以上无故障检测。

关键性能参数（列表）

1. 光学系统

   • 波长范围：167 nm ~ 1050 nm（覆盖紫外到可见区，满足90+元素检测）
   • 分辨率：≤0.008 nm（200 nm处轴向观测，有效分离Fe、Cr等复杂谱线干扰）
   • 光栅切换：1800 g/mm（宽覆盖）/4320 g/mm（高分辨）自动切换
   • 检测器：CID-14电荷注入检测器（512×512像素，像素尺寸13 μm）

2. 等离子体系统

   • 功率范围：750 W ~ 1600 W（步进1 W，精准匹配海水、废水等高盐基体）
   • 观测方式：轴向（高灵敏度，μg/L级别）+径向（低基体干扰，≤20% TDS样品）自动切换
   • 炬管类型：水平石英炬管（耐温1200℃，减少背景噪声）
   • 冷却气流量：15 L/min（氩气，稳定等离子体焰）

3. 进样系统

   • 雾化器：SeaSpray高盐雾化器（耐受≤20% TDS样品，无堵塞）
   • 雾室：Scott双通冷却雾室（温控-10℃~+10℃，精度±0.1℃，记忆效应≤0.1%）
   • 自动进样器：ASX-560（120样品位，进样体积50~5000 μL，RSD≤0.5%）

4. 核心性能指标

   • 检出限（DL）：As（193.7 nm轴向）≤0.02 μg/L；Cd（228.8 nm轴向）≤0.005 μg/L；Pb（220.3 nm轴向）≤0.01 μg/L
   • 精密度（RSD）：10 μg/L多元素标准（n=10）≤0.5%
   • 动态范围：≥10⁶（覆盖μg/L到mg/L浓度级，无需稀释切换）

典型应用场景

iCAP PRO XP适配多行业合规分析需求：

• 环境检测：地表水/废水重金属（As、Hg、Pb）、土壤有效态元素（符合HJ 776标准）；
• 食品检测：大米Cd残留、乳制品Pb含量（符合GB 5009.268标准）；
• 制药行业：药品原料/制剂金属杂质（符合USP<233>、EP<2.2.56>）；
• 工业分析：钢铁合金痕量元素（Cr、Ni）、半导体硅材料杂质（符合SEMICON标准）；
• 科研领域：地质样品稀土元素（REE）、生物样品微量元素（Zn、Cu）。

该系统通过参数优化平衡了灵敏度与基体耐受性，是实验室高通量、高精度分析的核心工具。