产品升级 | 以速致胜，以精求准！如海光电CNIR高速近红外光谱仪，重新定义工业极限

1. 精准波段覆盖：1525-1575nm（1550nm中心），锁定关键基团特征区

光谱检测的核心在于对物质特征基团的精准识别，该光谱仪精准覆盖1525-1575nm近红外波段，这一波段这一波段不仅是光纤通信的C波段，也恰好锁定了多种关键含氢基团，是物质成分检测与结构分析的黄金波段。相较于全波段光谱仪，这种精准波段设计摒弃了无关波段的信号干扰，让光谱采集更聚焦、检测信噪比更高。特别适合膜厚测量、成分分析等专业场景。

2. 0.3nm高分辨：细微差异尽收眼底，检测精度再升级

分辨率是衡量光谱仪检测能力的关键指标，直接决定了仪器能否区分物质细微的光谱差异。如海光电这款新品具有0.3nm的高分辨率，能精准捕捉物质光谱的细微变化。无论是薄膜厚度变化带来的干涉条纹偏移，还是混合气体中不同组分的特征峰差异，亦或是液体原料中主成分与微量杂质的光谱区别，都能被清晰识别。

3. 3000帧/s超高速：毫秒级响应，适配动态检测需求

在工业高速生产线、危险气体预警、生物动态过程监测等场景中，检测速度直接决定了检测效率与安全性。该光谱仪以3000帧/s的超高速采集能力，实现了从“静态检测”到“动态追踪”的跨越，能实时捕捉检测对象的动态变化，彻底解决了传统仪器“检测滞后”的痛点。

4. 网口实时通讯：数据无缝对接，助力智能制造

在智能制造趋势下，检测数据的实时传输与集成至关重要。该光谱仪配备标准工业网口，可实现检测数据的实时上传，无缝对接生产线控制系统、MES生产管理系统。检测数据能瞬间同步至后台，实现“检测-分析-调整”的闭环控制；历史数据可长期存储，便于产品质量追溯和生产工艺优化。同时，网口通讯支持多台仪器组网联动，适配大型生产线多点位同步检测需求，进一步提升检测效率。

*其他参数指标可定制

依托上述核心优势，如海光电这款高速近红外光谱仪可广泛应用于工业制造、光纤通信、生物医学、科研实验等多个领域。其中，膜厚测量是其核心优势应用场景，凭借精准的波段匹配、高分辨与超高速性能，展现出不可替代的检测价值；同时，在材料成分分析等领域也能高效适配，实现全面赋能。

结合1525-1575nm波段特性与0.3nm高分辨率，仪器膜厚测量范围覆盖0.05-50μm，精准适配绝大多数工业薄膜需求（半导体封装膜0.1-2μm、光学薄膜1-10μm、电池隔离膜5-20μm、包装薄膜10-50μm）。其测量原理基于光学干涉法：光照射薄膜表面后，产生表面反射光与薄膜-基底界面反射光，两束光因光程差（与膜厚直接相关）发生干涉，形成特定干涉光谱。仪器通过3000帧/s超高速采集干涉光谱，利用0.3nm高分辨力捕捉干涉条纹波长特征。

• 高速薄膜生产线在线检测：在薄膜的高速生产线中，3000帧/s的速度可实现高频采样，实时输出数据；网口通讯同步数据至控制系统，实现闭环控制，减少不良品率，卓越稳定性保障24小时连续运行。

• 半导体芯片封装膜检测：半导体芯片封装膜厚度要求很高（0.5-2μm，误差±0.02μm），仪器凭借0.3nm高分辨率精准捕捉细微膜厚变化，非接触式检测避免损伤芯片，超高速采集适配芯片封装高速流水线，确保每颗芯片封装膜厚度达标，提升芯片可靠性。

• 新能源电池隔离膜检测：电池隔离膜厚度均匀性直接影响电池安全与续航（典型厚度5-20μm），仪器可检测隔离膜厚度分布，发现局部薄点、厚点缺陷，超高速采集捕捉动态厚度波动，为工艺优化提供数据支撑。

• 实验室薄膜研发：在柔性电子薄膜、生物医用薄膜等新型功能薄膜研发中，仪器实时监测薄膜制备过程中的厚度变化，帮助研发人员快速优化涂布工艺、调整材料配方，缩短研发周期。

可检测化工原料（如乙二醇、丙二醇）、食品饮料（果汁、蜂蜜）、医药制剂（生理盐水、葡萄糖注射液）等液体的成分含量与纯度。凭借0.3nm高分辨力区分主成分与杂质、添加剂的光谱差异，3000帧/s高速采集适配液体高速生产线在线检测；无需样品预处理，非接触式检测避免污染样品，适配工业连续生产与品质把控需求。

在生物医学研究中，可实时监测生物组织（如血液、细胞）中水分、蛋白质等成分的动态代谢变化。依托对O-H、N-H基团的精准检测，捕捉生物过程的毫秒级变化；微型化设计与非接触式检测适配实验室活体监测需求，为生命科学研究提供精准的动态数据支撑。

1525-1575nm波段属于光纤通信C波段核心区域，仪器可检测光纤通信信号的波长、功率、带宽等指标，3000帧/s高速采集实时监测信号干扰与衰减，保障通信系统稳定运行；微型化设计便于集成到通信设备中，助力光纤通信网络的智能化监测。

1525-1575nm 波段可匹配该波段范围内激光器的性能监测需求，凭借 0.3nm 高分辨率，能够精准捕捉激光中心波长的细微偏移，并实现激光线宽的精准测量；3000 帧 /s 的超高速采集能力可实时追踪激光输出的动态变化，及时发现波长漂移、线宽展宽等异常情况。该应用可广泛适配工业级激光器、光纤激光器的生产测试与在线运维场景。

Jiaxing Sun等人介绍了一种基于反射光谱拟合技术的新型半导体薄膜厚度测量和校正方法。该方法旨在解决现有技术在测量微米级工业薄膜厚度时存在的精度不足、稳定性差和测量速度慢等问题。该方法使用由如海光电提供的近红外光谱仪测量了6中样品的膜厚，表现出卓越的精度和稳定性。

利用反射光谱法，通过分析样品的反射光谱来确定薄膜的厚度。具有简单、快速的优点，尤其适用于工业生产环境。使用如海光电的CNIR高速近红外光谱仪，结合其高分辨率和高速的独特优势，可实现高效、精确的测量，用于测量工业薄膜在微米级别的厚度。

在本实验中，使用如海光电提供的近红外光谱仪，根据波长范围对整个范围内不同厚度薄膜材料的所有反射光谱信号进行了采集，不同厚度的实际反射光谱信号如图4所示。

图4 六组样品的实际反射光谱。（a） 81.78 微米;（b） 207.51 微米;（c） 376.48 微米;（d） 501.18 微米;（e） 613.34 微米;（f） 722.87 微米。

该研究成功开发了一种基于反射光谱拟合技术的半导体薄膜厚度测量和校正系统。该系统具有快速、高效和精确的特点，特别适用于测量百微米级工业半导体薄膜的厚度。此外，该方法还显著提高了测量精度和稳定性，为半导体薄膜厚度的精确测量提供了新的解决方案。

如海光电CNIR高速近红外光谱仪的推出，以精准波段覆盖、0.3nm 高分辨、3000 帧 /s 高速、高稳定性与网口通讯的核心技术优势，打破了传统光谱仪在动态检测、精准适配等方面的局限。无论是膜厚测量等核心场景的高精度把控，还是成分分析、光纤通信监测等多元场景的高效适配，都彰显了其 “精准、高速、稳定、易集成” 的产品价值。