突破0.1微米检测极限重新定义半导体洁净度标准
UK MICRON OPTOELECTRONICS推出U-III表面粒子计数器：突破0.1微米检测极限，重新定义半导体洁净度标准
2025年3月6日——领先的光电技术企业UK MICRON OPTOELECTRONICS正式发布全新升级的U-III表面粒子计数器。该产品专为高洁净度制造场景设计，采用革命性激光传感技术与智能采样系统，可检测0.1微米级表面颗粒污染，助力半导体、液晶面板及精密电子行业实现更高良率与可靠性。
核心技术创新
纳米级检测能力
U-III搭载HeNe激光传感器，分辨率达0.1微米，支持0.1-5.0微米颗粒粒径的六通道分类统计（0.1/0.2/0.3/1.0/3.0/5.0μm），覆盖半导体制造中对超细微粒的严苛检测需求。
静态采样模式：通过优化气流控制，减少测量误差，提升数据稳定性。
智能化设计与操作体验
7英寸高分辨率触控屏：支持实时数据可视化与交互操作，简化流程。
双电池热插拔系统：支持连续生产场景下的不间断作业，电池更换无需停机。
USB数据接口与软件升级：便捷导出检测报告，并可通过固件更新持续优化性能。
行业应用与效益
提升制造效率
减少50%自净时间：通过量化表面污染数据，缩短设备维护周期（PM周期），提升产线吞吐量。
延长MTBC（平均无故障周期）：结合颗粒控制策略，关键设备可靠性提升4倍以上。
覆盖高洁净场景
半导体制造：晶圆表面、机台内腔等关键区域的洁净度验证。
精密光学与电子：液晶面板、光学镜片组件、医疗器械的表面污染控制。
符合国际标准
产品严格遵循ISO-14644-9表面粒子控制规范，为半导体厂商提供标准化检测工具。
市场评价与展望
U-III的发布标志着表面污染监测技术迈向纳米级精度时代。行业分析师指出，该设备通过量化颗粒数据与智能反馈机制，将推动半导体制造从“经验驱动”向“数据驱动”转型，进一步降低因微粒污染导致的良率损失。目前，QIII系列已获得多家国际头部晶圆厂的采购意向，预计将在2025年第二季度实现量产交付。
关于UK MICRON OPTOELECTRONICS
作为光电传感领域的领军企业，UK MICRON OPTOELECTRONICS持续深耕半导体检测与精密光学技术，其产品线覆盖表面微粒检测、激光粒度分析及高精度热成像等场景。
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