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1. 共聚焦模式

共聚焦技术可以用来测量各类样品表面的形貌。它比光学显微镜有更高的横向分辨率，可达0.10um.利用它可以实现临界尺寸的测量。当用150倍、0.95数值孔径的镜头时，共聚焦在光滑表面测量斜率达70°（粗糙表面达86°）。

共聚焦算法保证Z轴测量重复性在纳米范畴。

2. 相位差干涉模式

相位差干涉是一种亚纳米级精度的用于测量光滑表面高度形貌的技术。它的优势在于任何放大倍数都可以保证亚纳米级的纵向分辨率。使用2.5倍的镜头就能实现超高纵向分辨率的大视场测量。

3. 白光干涉干涉模式

白光干涉是一种纳米级测量精度的用于测量各种表面高度形貌的技术。它的优势在于任何放大倍数都可以保证纳米级的纵向分辨率。

4. 多焦面叠加模式

多焦面叠加技术是用来测量非常粗糙的表面形貌。根据我们在共聚焦和干涉技术融合应用方面的丰富经验，特别设计了此功能来补足低倍共聚焦测量的需要。该技术的最大亮点是快速(mm/s)、扫描范围大和支援斜率大(最大86°)。此功能对工件和模具测量特别有用。

5. 真彩色共聚焦图像

每个像素点都能还原真实的色彩。在扫描时红、绿、蓝三色LED交替照明，并将三张单色的图片还原成一幅高分辨率的彩色图像。相比其他品牌采用像素插值算法，S neox用这种技术获得的图片色彩保真度和还原性更胜一筹。

6. 3D形貌的最新体验

超清晰的细节，用高分辨率的摄像头将共聚焦的图像精彩呈现

7. 超清晰的细节

将纳米世界呈现给您，用高分辨率的摄像头将共聚焦的图像精彩呈现。

标准尺寸支架：

超大尺寸支架：

西班牙Sensofar品牌简介

     Sensofar是西班牙的一家高新技术公司，成立于2001年，总部位于西班牙科技中心巴塞罗那附近的塔拉萨(Terrassa)。公司通过战略合作伙伴构成全球网络，在超过20 个国家设有代表处，始终遵循先进的技术、卓越的质量和优质客户服务的宗旨。

      Sensofar公司专注于研发非接触式3D光学表面测量技术，致力于开发、制造和供应高端3D测量工具，并提供3D测量技术领域内的咨询服务。Sensofar持续不断地研发和申请表面测量专利技术，在全球范围内创造了数百种表面形貌测量应用产品。在高精度3D光学测量技术方面，拥有深厚的技术实力。

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关于我们

      ，专注显微形貌分析！

      专业提供各类型光学显微镜、三维表面轮廓仪、扫描电镜、激光干涉仪、金相制样、电镜制样、科研相机、冷热台等材料分析仪器及应用解决方案！

     我司是西班牙Sensofar、德国徕卡、日本奥林巴斯、美国Zygo、丹麦司特尔、德国蔡司、捷克泰斯肯（TESCAN）、美国RMC、英国Linkam等著名仪器公司特许代理商。致力于为材料用户提供全面且专业的显微形貌分析产品和技术服务！

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