赛默飞 ARL Optim’X 波长色散X射线荧光光谱仪参数

赛默飞ARL Optim’X是专为实验室、工业检测及科研领域打造的高性价比波长色散X射线荧光光谱仪（WDXRF），核心聚焦多元素快速、高精度分析，覆盖从轻元素（B、C）到重元素（U）的全周期元素范围，适配固体、液体、粉末等多种样品形态，是满足RoHS、REACH等法规合规及科研定量需求的核心设备。

一、仪器核心技术特点

• 高分辨率光学设计：采用Johansson型弯晶聚焦技术，相邻元素谱线分离度≥99.5%，解决B/C、Fe/Co等易重叠谱线问题；
• 快速分析能力：标配4道探测器，单次样品分析时间≤30秒（常规10-20元素），最大 throughput≥120样/小时；
• 宽样品适应性：支持固体片（Φ10-Φ50mm）、粉末压片、熔融片、液体（密封杯）及不规则样品，样品台最大承载10kg；
• 低痕量检测性能：RoHS管控元素（Cd、Pb）检测限≤0.1ppm，满足食品接触材料（GB 4806）迁移元素检测要求；
• 智能化运维：SmartGonio™软件自动优化谱线位置，减少人为误差；真空/氦气氛围切换≤30秒，维护周期延长至6个月/次。

二、关键技术参数（列表）

1. 激发与光学系统

• X射线管：功率4kW（最大），高压60kV，电流60mA；靶材可选Rh（标准）、Cr、W；
• 分光晶体：LiF(200)、LiF(220)、PET、RAP、InSb等，覆盖Z=5（B）-Z=92（U）；
• 布拉格角范围：10°-140°，步长0.001°，角度精度±0.002°；

2. 探测器系统

• 探测器类型：流气正比计数器（FPC）、闪烁计数器（SC）、硅漂移探测器（SDD，可选）；
• 能量覆盖：FPC（0.1-20keV）、SC（1-60keV）、SDD（0.5-100keV）；
• 计数率：最大10⁶ cps（无死时间），死时间校正效率≥99%；

3. 样品系统

• 样品台：自动旋转（0-60rpm），可配真空/氦气氛围；
• 氛围切换：真空（10⁻² mbar）→氦气（纯度99.999%）≤30秒；
• 样品尺寸：固体Φ10-Φ50mm，液体样品杯容积5-10mL；

4. 性能指标

• 检测限（LOD，固体样品）：Cd≤0.1ppm、Pb≤0.2ppm、As≤0.5ppm、B≤5ppm；
• 精度（RSD）：主元素（Fe、Si）≤0.1%，痕量元素（≤100ppm）≤5%（n=10次重复）；
• 线性范围：跨越6个数量级（ppm到%级）；

三、典型应用场景

• 金属行业：钢铁（GB/T 223）、铝合金（GB/T 7999）中C、Si、Mn等元素快速定量，替代湿法化学；
• 环境检测：土壤/沉积物中重金属（Cd、Pb、Hg）痕量分析，符合EPA 6010D方法；
• 电子电器：RoHS指令6种有害物质筛查，单样≤20秒，日处理量≥1000样；
• 地质矿产：矿石主量（Fe、Al、Si）及痕量REE分析，支持野外预检测；
• 食品接触材料：塑料/陶瓷中Pb、Cd迁移量检测，满足GB 4806.1-2016标准；

赛默飞ARL Optim’X通过高分辨率、快速分析及宽样品适应性，成为多行业实验室核心设备。参数设计既匹配法规合规需求，又兼顾科研定量精度，可有效提升检测效率与数据可靠性。如需定制样品方案，可咨询赛默飞应用工程师。