TiO2薄膜和多层减反膜的表征
椭偏光谱仪在TiO2薄膜及多层增透膜中的应用
光伏薄膜的椭圆偏振光谱测量
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掺杂有稀土元素的氧化锌薄膜分析
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椭圆偏振光谱仪研究ZnO薄膜
使用MM-16椭圆偏振光谱仪表征TiO2薄膜和多层减反膜
使用MM-16椭圆偏振光谱仪表征并五苯有机薄膜晶体管
使用椭圆偏振光谱仪表征铁电薄膜PbZr1-xTixO3&BA1-xSrxT
Ag-ITO-Ag多层导电薄膜的光学性能研究
关于此项工作的更多详细信息首次发表于 Optics Express 16129,2012 年 7 月 2 日,第 20 卷,14 号 [1]
QuanX型荧光能谱仪晶园上薄膜纳米级薄膜厚度均匀度测量
利用SPM观察高分子薄膜的层状结构
单次反射ATR法测定高分子薄膜
使用XRF-1800进行的膜厚测定薄膜测定实例
PZT/BTO压电/铁电薄膜形貌及电滞回线测定解决方案
薄膜吸收,透射和反射率的测定
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