关于成像光谱技术对苹果斑点及损伤快速识别研究
- 上传人： 上海科学仪器有限公司 |大小：606.34KB|浏览：723次|时间：2018-09-12
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取苹果黑斑区域、损伤区域、正常区域和背景各3个不同位置周边50个像元，分别获取这3个不同位置50个像元的光谱反射率，并求取这50个像元的反射率均值，如图所示，其中，苹果没有损伤区域的光谱反射率在500-680nm范围内高于损伤区域及黑斑区域的光谱反射率；在550-700nm范围内，苹果黑斑区域的光谱反射率较低；在580-700nm范围内，苹果黑斑区域、损伤区域、正常区域的光谱存在较为显著的波峰波谷，而背景无显著特征。在550-680nm范围内，损伤区域的光谱反射率鉴于苹果黑斑区域和正常区域之间，因此可以尝试通过构建植被指数和阈值分割方法快速识别出苹果黑斑区域和损伤区域。
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