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微米膜厚测量仪 C11011-01产品样册

上传人: 滨松光子学商贸(中国)有限公司 |大小:3.4MB|浏览:727次|时间:2020-03-10
微米膜厚测量仪 C11011-01产品样册
文档简介

C11011-01型光学微米膜厚测量仪利用激光相干度量学原理,测量速度达60Hz,适用于产品线上在线测量。此外,与mapping工作台联用可以测量指定样品的厚度分布。C11011-01应用广泛,比如用于产品制造过程监控或质量控制。 C11011-01可测玻璃膜厚范围分别为25 μm 到2200 μm 和 10 μm 到 900 μm.
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