X荧光光谱仪

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技术指标：分析范围: 1PPM-99.99% 同时分析: 几十种元素同时分析 测镀层厚度极ng确至0.01微米 测量对象: 固体、粉未、液体 测量时间: 60-300秒 测量精度:0.05% 分析元素: Na-U 工作温度:15-26℃ 相对湿度:≤70% 重量:100KG 功耗: 200瓦 配置：多样自动进样系统 计算机、喷墨打印机 真空泵（可选） 压片机（可选） 硅针半导体探测器 放大电路 高低压电源 X光管
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