分辨率测试卡

JIMA RT RC-05B是一款采用最新半导体光刻技术制作的微型分辨率测试卡。它用于校准和监控系统分辨率，确保微焦点或纳米焦点X射线检测系统获得高质量的结果。JIMA RT RC-05B支持3微米至...

Kowotest 39无损检测线对卡，Type 39X射线分辨率测试卡符合ASTM E 2445-05第5.1.3节的要求。随附符合性证书。

光学成像系统的分辨率指该系统能否分开两个靠近的点或物体细节的能力，通常以每毫米可以识别的线对数（lp/mm）来表示光学成像系统分辨率的大小。线对由一条黑线和一条白线组成，光学成像系统能分辨的每毫米线对...

日本JIMA RT CT-01B CT分辨率测试卡采用最先进的半导体工艺技术，采用金 (Au) 吸收材料开发了一种新的 CT 分辨率图，适用于从 3 微米到 7 微米的 5 种不同尺寸的线和空间。

WEK35391-2017空间分辨力测试卡,WEK35391-2017分辨力测试卡每个线对组由4块规格尺寸相同的薄片平行排列构成（薄片之间用与薄片等厚的金属隔片隔开），两侧放置最厚薄片的2倍厚度的校准...