波前分析仪

为满足广大客户在真空环境中对激光光束质量，气流，等离子体密度测量分析，以及光学系统装配的需求。法国Phasics推出了新型高精度波前分析仪SID4-V，是目前市场上仅有一款可应用于真空度在10-6 m...

基于Phasics专利的四波横向剪切干涉技术和高质量的InGaAs探测器，提供了一个非常高的空间分辨率和灵敏度。确保测量红外镜头和短波红外源的精度。此外，SID4 SWIR提供了光谱范围从0.9到1....

法国PHASICS 的波前分析仪（上海屹持光电代理），基于其波前测量专利——四波横向剪切干涉技术（4-Wave Lateral Shearing Interferometry）。作为夏克-哈特曼技术的...

基于Phasics四波横向剪切干涉专利技术的SID NIR波前传感器波长范围覆盖1.5- 1.6μm，具有超高分辨率（160x120测量点）。确保非常精确的波前测量。结构紧凑，很容易集成到一个光学台用...