产品中心

佰力博高温四探针测试系统采用先进双电测四探针测量原理，专门用于评估半导体薄膜和薄片的导电性能，该系统采用直排四探针测量原理和单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准设计研...

Partulab佰力博自主研发HRMS-800高温四探针测试仪，可以实现600℃高温、真空、气氛条件下测量半导体材料的方块电阻，薄膜、薄片材料的方块电阻。该系统广泛应用于高校科研院所和企业...