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超快自相关仪
  • 品牌:美国Edmund Optics
  • 型号: Edmund #11-760
  • 产地:美国
  • 样册:暂无
  • 供应商报价: 面议
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详细介绍

  • 适合超快激光脉冲的表征

  • 内置 TPA 探测器 700-1100nm 下的灵敏度 >0.1W2

  • 紧凑型设计且带有SCPI 接口软件

  • 适用于高低重复率的超快激光器

超快自相关仪用于表征由 Ti:sapphire 和 Yb:doped 光纤激光器产生的超快激光脉冲。这些自相关器采用内置双光子吸收 (TPA) 探测器,适合测量 700 到 1100nm 波长下的超快飞秒和皮秒级激光脉冲。高度灵敏的 TPA 检测器可测量要求灵敏度在毫瓦范围内的超快激光脉冲。这些超快自相关仪采用紧凑的外形设计,可以安装在可调节光学安装座上,以便轻松整合到任何超快光学环境中。每个自动相关仪都随附一个内置 TPA 探测器,一个 USB 接口的控制器、可随时使用的数据采集软件,以及基于 TCP/IP 的软件,该软件带有 SCPI 标准组件的子集,允许用户编写自动测量程序。

波长范围 (nm):
700 - 1100
计算机接口 :
USB

Dimensions (cm):
10.2 x 10.2
Measurable Pulse Duration:
50 - 3500fs

Scan Range:
150fs - 15ps
Sensitivity (W2):
<0.1

Repetition Rate (Hz):
>300
Maximum Input Power/Energy:
300mW/5µJ

Input Beam Polarization:
Linear/Horizontal
Delay Resolution:
<0.001 % of Scan Range

Delay Linearity:
<1%
Measurement Mode:
Collinear Intensity

SHG Phase Matching:
Not Required
Trigger Mode:
300Hz - 50kHz

输入孔径(mm):
6
Fitting Routine:
Gaussian, Sech2, Lorentz

Calibration:
Certified NIST Traceable Calibration 


产品优势
适合超快激光脉冲的表征
内置 TPA 探测器 700-1100nm 下的灵敏度 >0.1W2
紧凑型设计且带有SCPI 接口软件
适用于高低重复率的超快激光器
超快自相关仪用于表征由 Ti:sapphire 和 Yb:doped 光纤激光器产生的超快激光脉冲。这些自相关器采用内置双光子吸收 (TPA) 探测器,适合测量 700 到 1100nm 波长下的超快飞秒和皮秒级激光脉冲。高度灵敏的 TPA 检测器可测量要求灵敏度在毫瓦范围内的超快激光脉冲。这些超快自相关仪采用紧凑的外形设计,可以安装在可调节光学安装座上,以便轻松整合到任何超快光学环境中。每个自动相关仪都随附一个内置 TPA 探测器,一个 USB 接口的控制器、可随时使用的数据采集软件,以及基于 TCP/IP 的软件,该软件带有 SCPI 标准组件的子集,允许用户编写自动测量程序。
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