日本理学ZSX Primus III+ X射线荧光光谱仪 核心参数
分析元素: | 5.5 | 检出限: | 7.8 |
重复性: | 6.3 | 检测时间: | 025 |
仪器分类: | 多道型 | 仪器种类: | 台式 |
详细介绍
日本理学ZSX Primus III+ X射线荧光光谱仪可在慢速和快速直接切换抽真空和卸真空速率,使粉末和金属样品的样品处理量达到标准形式,真空室内飘散粉末损坏光管的风险,以很少的标准在各种样品类型中快速定量测定从氧气(O)到铀(U)的主要和次要原子元素,具有创新的光学上述配置,由于样品室的维护,再也不用担心被污染的光束路径或停机时间。光学元件以上的几何结构消除了清洁问题并延长了使用时间,并且无需在进行粉末样品分析时使用粘合剂,使样品制备更快捷简便。
产品特点:
1、操作界面简洁、自动化程度高;
2、元素从O到U的分析;
3、样品室可简单移出方便清洁;
4、管道上方的光学器件使污染问题最小化;
5、特殊光学系统减少样品表面不平而引起的误差;
6、占地面积小,使用的实验室空间有限;
7、精度定位样品台满足合金分析高精度要求;
8、统计过程控制软件工具(SPC)吞吐量可以优化疏散和真空泄漏率。
日本理学ZSX Primus III+ X射线荧光光谱仪在处理样品的时候精度定位确保样品表面与X射线管之间的距离保持恒定,这对于要求高精度的应用很重要,例如合金分析。ZSX Primus III +采用独特的光学配置进行高精度分析,可实现粉末、固体样品不同元素不同含量的高精度分析。
产品优势
日本理学ZSX Primus III+ X射线荧光光谱仪在处理样品的时候精度定位确保样品表面与X射线管之间的距离保持恒定,这对于要求高精度的应用很重要,例如合金分析。ZSX Primus III +采用独特的光学配置进行高精度分析,可实现粉末、固体样品不同元素不同含量的高精度分析。
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