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半导体失效分析系统-微光显微镜

 
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PHEMOS-1000 微光显微镜 C11222-16
  • 品牌: 英国SMS
  • 型号:PHEMOS-1000
  • 产地:英国
  • PHEMOS-1000是一款高分辨率的微光显微镜,通过侦测半导体缺陷引起的微弱的光发射和热发射来准确定位半导体器件的失效位置。

IPHEMOS-MP倒置光发射显微镜 C10506-06-16
  • 品牌: 英国SMS
  • 型号:C10506-06-16
  • 产地:英国
  • iPHEMOS-MP倒置微光显微镜是一款半导体失效分析系统,通过检测半导体装置缺陷引起的微弱的光发射和热发射来准确定位半导体器件的失效位置。

Thermal-F1 热发射显微镜 C14229-01
  • 品牌: 英国SMS
  • 型号:C14229-01
  • 产地:英国
  • “Thermal-F1”是热发射显微镜的第二代产品。显微镜光学系统可以实现软件自动控制,在同类产品中拥有较佳灵敏度,高帧率锁定热成像(Thermal-lock in), 测试领域能够广泛地覆盖从芯片级...

IPHEMOS-DD倒置光发射显微镜 C10506-05-16
  • 品牌: 英国SMS
  • 型号: C10506-05-16
  • 产地:英国
  • iPHEMOS-DD倒置微光显微镜是一款半导体失效分析系统,通过检测半导体装置缺陷引起的微弱的光发射和热发射来准确定位半导体器件的失效位置。

半导体失效分析系统-微光显微镜解决方案
  • 新方法】基于ODPL的化合物半导体材料GaN晶体质量评价

    由两种或两种以上元素以确定的原子配比形成的化合物,并具有确定的禁带宽度和能带结构等半导体性质的称为化合物半导体材料,化合物半导体材料种类繁多,性质各异,如Ⅲ-Ⅴ族和Ⅱ-Ⅵ族化合物半导体及其固溶体材料,...

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