半导体失效分析系统-微光显微镜

PHEMOS-1000是一款高分辨率的微光显微镜，通过侦测半导体缺陷引起的微弱的光发射和热发射来准确定位半导体器件的失效位置。

iPHEMOS-MP倒置微光显微镜是一款半导体失效分析系统，通过检测半导体装置缺陷引起的微弱的光发射和热发射来准确定位半导体器件的失效位置。

“Thermal-F1”是热发射显微镜的第二代产品。显微镜光学系统可以实现软件自动控制，在同类产品中拥有较佳灵敏度，高帧率锁定热成像（Thermal-lock in）， 测试领域能够广泛地覆盖从芯片级...

iPHEMOS-DD倒置微光显微镜是一款半导体失效分析系统，通过检测半导体装置缺陷引起的微弱的光发射和热发射来准确定位半导体器件的失效位置。