JEM-2800是日本电子透射电子显微镜系列中的一款特殊设计的产品,在兼顾高分辨高稳定性的同时,最求分析效率的最大化和操作的自动化。颠覆传统的电镜外观设计,除了让人耳目一新外,还对设置环境更具抗干扰能力。
主要技术指标:
1. 点分辨率:0.21nm;
2. 晶格分辨率:0.1nm;
3. STEM 分辨率:0.16nm;
4. 二次电子分辨率:0.5nm;
5. 能谱:可以安装两个超级能谱
6. 洛伦兹模式:标配
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