NS-90Z Plus丨纳米粒度及电位分析仪

NS-90Z Plus纳米粒度及电位分析仪是珠海有限公司在成功引进和吸收马尔文帕纳科(Malvern Panalytical)纳米颗粒表征技术后，在上一代NS-90Z的基础上进一步优化了光学电子测量技术和分析性能的一款新产品。NS-90Z Plus具有更优越的粒度和电位分析功能，能满足广大纳米材料、制剂开发和生产用户的颗粒粒度和Zeta电位的测试需求。

NS-90Z Plus纳米粒度及电位分析仪采用动态光散射技术测量粒子和颗粒的粒度，采用电泳光散射技术测定颗粒Zeta电位和电位分布，同时兼有静态光散射技术用于测定蛋白质与聚合物等的分子量。NS-90Z Plus融合马尔文帕纳科恒流模式下的M3-PALS快慢场混合相位检测分析技术，提升了仪器的电位分析性能，升级了兼容多种样品池 (选配) 功能，可分析样品浓度和粒度范围也得到了明显提升。

与此同时，仪器广泛采用全球化供应链的优质光电部件及Scrum软件迭代升级开发模式，使其具有高品质并能随用户需求变化升级管理和报表功能。进口雪崩式光电二极管(APD)检测器、He-Ne气体激光器光源和高性能相关器等优质硬件，加上精确的内部温控装置、密闭光纤光路设计以及先进的软件算法，共同保障了数据的高重现性、准确性和灵敏度。NS-90Z Plus支持SOP标准化操作，具有兼容CFDA GMP《计算机化系统和确认与验证》要求的审计、权限管理及电子签名功能以及具有测试数据质量智能反馈和优化建议，方便用户使用。

测量范围*：0.3nm - 10μm (取决于样品)

测量原理：动态光散射法(DLS)

重复性误差：≤ 1% (NIST可追溯胶乳标样)

Z小样品容积*：20μL

Z小样品浓度：≤ 1mg/mL (取决于样品)

Z高样品浓度：40% w/v (取决于样品)

Z小子测试时间：1.68s

分子量测量范围： 

980  - 2×107 Da (取决于样品)，静态光散射德拜法

342 - 2×107 Da (取决于样品)， 动态光散射计算

Zeta 电位范围：无实际限制

适用测试的粒径上限：不小于100μm (取决于样品)

Z大电泳速率：＞+20μ.cm/V.s / ＜-20μ.cm/V.s

测量原理：电泳光散射法(ELS)

Z高样品浓度：40% w/v (取决于样品)

Z小样品容积：20μL

Z高样品电导率：260mS/cm

检测技术：快慢场混合模式相位分析(M3-PALS)，恒流模式

激光光源：高稳定He-Ne气体 激光器，波长632.8nm，功率 4mW。

整机激光安全：I类

检测角度： 90°，13°

检测器：雪崩式光电二极管(APD)检测器，QE>80%@632.8nm

相关器：采样时间 25ns - 8000s，多于4000通道，1011动态线性范围

冷凝控制：干燥氮气或空气吹扫 (需外接气源)

温度控制范围：0  - 120 ℃

温度控制Z高精度：± 0.1 ℃

具有兼容CFDA GMP《计算机化系统和确认与验证》的审计、权限管理及电子签名功能

? 胶体和乳液表征

? 药物分散体系、乳液和疫苗等制剂配方和工艺开发

? 脂质体和囊泡的开发

?  蛋白质及其聚集体的评价

? 电极浆料及助剂的粒径、分散和稳定性表征

? 涂覆材料分散性能预测

? 纳米金等高电导率溶胶的改性

? 墨水、碳粉、染料和颜料性能改进

? 优化水处理中絮凝剂的使用

?  胶体、乳液、浆料稳定性评价

?  确定多种复杂制剂的混合、均质等加工工艺参数

点击【阅读原文】

了解更多颗粒测量产品资讯