详细介绍
ZEM-3介绍:
塞贝克系数/电阻测量系统可实现对金属或半导体材料的热电性能的评估。作为ZEM的特点,塞贝克系数和电阻都可以用一种仪器来测量。
ZEM-3特点:
♦ 拥有温度精确控制的红外金面加热炉和控制温差的微型加热器;
♦ 测量是由计算机控制的,并且能够在指定的温度下执行测量,并允许自动测量消除背底电动势;
♦ 欧姆接触自动检测功能(V-I图);
♦ 可以用适配器来测量薄膜;
♦ 可定制高阻型。
ZEM-3结构:
ZEM-3样品腔:
ZEM-3工作原理:
ZEM-3应用方向:
对于半导体,陶瓷材料,金属材料等多种材料的热电性能分析。
ZEM-3可选功能:
1. 薄膜测量选件
2.低温选件(温度范围-100℃到200℃)
3.高阻选件( 高到10MΩ)
ZEM-3参数配置:
型号 | ZEM-3M8 | ZEM-3M10 |
温度范围 | 50-800℃ | 50-1000℃ |
样品大小 | 方形2-4mm*6-22mmL 或者 圆形φ2-4mm*6-22mmL | |
加热方式 | 红外加热 | |
气氛 | 高纯氦气(99.999%) | |
样品温差 | MAX.50℃ | |
测量方式 | 电脑全自动测量 |
附:
热电材料/器件测试设备
测试数据
烧结P型Si80Ge20塞贝克系数及电阻率测量结果
发表文章
1. Y. Wang et al. / Adv. Energy Mater. 2020, 2001945
2. Z. Ge et al. / Chemical Engineering Journal 2020, 126407
3. J. He et al. / Energy Environ. Sci., 2020,13, 2106-2114
4. Y. Takagiwa et al. / ACS Appl. Mater. Interfaces 2020, 12, 43, 48804–48810
5. L. Zhao et al. / Adv. Energy Mater. 2019, 9, 1901334.
用户单位
清华大学
ZG科学技术大学
上海交通大学
复旦大学
南方科技大学
武汉理工大学
ZG科学院上海硅酸盐研究所
ZG科学院大连化学物理研究所
产品优势
♦ 拥有温度精确控制的红外金面加热炉和控制温差的微型加热器;
♦ 测量是由计算机控制的,并且能够在指定的温度下执行测量,并允许自动测量消除背底电动势;
♦ 测量是由计算机控制的,并且能够在指定的温度下执行测量,并允许自动测量消除背底电动势;
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