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塞贝克系数/电阻测量系统ZEM
  • 品牌:日本Advance Riko
  • 型号: ZEM-3
  • 产地:日本
  • 样册:暂无
  • 供应商报价: 面议
  • 促销报价:面议 试用
  • 标签: 塞贝克系数、热电材料、电阻测量
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详细介绍

ZEM-3介绍:

    塞贝克系数/电阻测量系统可实现对金属或半导体材料的热电性能的评估。作为ZEM的特点,塞贝克系数和电阻都可以用一种仪器来测量。

  

ZEM-3特点:
  ♦  拥有温度精确控制的红外金面加热炉和控制温差的微型加热器;
  ♦  测量是由计算机控制的,并且能够在指定的温度下执行测量,并允许自动测量消除背底电动势;
  ♦  欧姆接触自动检测功能(V-I图);
  ♦  可以用适配器来测量薄膜;
  ♦  可定制高阻型。 

 

ZEM-3结构:
 

 

ZEM-3样品腔:

 

 
ZEM-3工作原理:
 

 

ZEM-3应用方向:
    对于半导体,陶瓷材料,金属材料等多种材料的热电性能分析。
 
ZEM-3可选功能:
 
1. 薄膜测量选件

2.低温选件(温度范围-100℃到200℃)
3.高阻选件( 高到10MΩ)


ZEM-3参数配置:

 

型号 ZEM-3M8ZEM-3M10
温度范围50-800℃50-1000℃
样品大小方形2-4mm*6-22mmL 或者 圆形φ2-4mm*6-22mmL
加热方式红外加热
气氛高纯氦气(99.999%) 
样品温差 MAX.50℃ 
测量方式电脑全自动测量

附:

热电材料/器件测试设备

20200228-63784726.png

测试数据

烧结P型Si80Ge20塞贝克系数及电阻率测量结果


发表文章

1. Y. Wang et al. / Adv. Energy Mater. 2020, 2001945 

2. Z. Ge et al. / Chemical Engineering Journal 2020, 126407 

3. J. He et al. / Energy Environ. Sci., 2020,13, 2106-2114 

4. Y. Takagiwa et al. / ACS Appl. Mater. Interfaces 2020, 12, 43, 48804–48810 

5. L. Zhao et al. / Adv. Energy Mater. 2019, 9, 1901334.


用户单位

清华大学

ZG科学技术大学

上海交通大学

复旦大学

南方科技大学

武汉理工大学

ZG科学院上海硅酸盐研究所

ZG科学院大连化学物理研究所


产品优势
♦ 拥有温度精确控制的红外金面加热炉和控制温差的微型加热器;
♦ 测量是由计算机控制的,并且能够在指定的温度下执行测量,并允许自动测量消除背底电动势;
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