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产品特点：

♦ 拥有温度精确控制的红外金面加热炉和控制温差的微型加热器；
♦ 测量是由计算机控制的，并且能够在指定的温度下执行测量，并允许自动测量消除背底电动势；

产品详情：

ZEM-3介绍：

塞贝克系数/电阻测量系统可实现对金属或半导体材料的热电性能的评估。作为ZEM的特点，塞贝克系数和电阻都可以用一种仪器来测量。

ZEM-3特点：

♦ 拥有温度精确控制的红外金面加热炉和控制温差的微型加热器；

♦ 测量是由计算机控制的，并且能够在指定的温度下执行测量，并允许自动测量消除背底电动势；

♦ 欧姆接触自动检测功能（V-I图）；

♦ 可以用适配器来测量薄膜；

♦ 可定制高阻型。

ZEM-3结构：

ZEM-3样品腔：

ZEM-3工作原理：

ZEM-3应用方向：

对于半导体，陶瓷材料，金属材料等多种材料的热电性能分析。

ZEM-3可选功能：

1. 薄膜测量选件

2.低温选件（温度范围-100℃到200℃）

3.高阻选件（高到10MΩ）

ZEM-3参数配置：

型号	ZEM-3M8	ZEM-3M10
温度范围	50-800℃	50-1000℃
样品大小	方形2-4mm6-22mmL 或者圆形φ2-4mm6-22mmL
加热方式	红外加热
气氛	高纯氦气（99.999%）
样品温差	MAX.50℃
测量方式	电脑全自动测量

附：

热电材料/器件测试设备

测试数据

烧结P型Si₈₀Ge₂₀塞贝克系数及电阻率测量结果

发表文章

1. Y. Wang et al. / Adv. Energy Mater. 2020, 2001945

2. Z. Ge et al. / Chemical Engineering Journal 2020, 126407

3. J. He et al. / Energy Environ. Sci., 2020,13, 2106-2114

4. Y. Takagiwa et al. / ACS Appl. Mater. Interfaces 2020, 12, 43, 48804–48810

5. L. Zhao et al. / Adv. Energy Mater. 2019, 9, 1901334.

用户单位

清华大学

ZG科学技术大学

上海交通大学

复旦大学

南方科技大学

武汉理工大学

ZG科学院上海硅酸盐研究所

ZG科学院大连化学物理研究所

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