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METER研讨会预告 ‖ 专家带您了解叶面积指数：理论、方法与应用
发布：北京力高泰科技有限公司浏览次数：68植物生理学专家Jeff Ritter解读叶面积指数的实际应用，以及如何将这些应用结合到生产实践中去。 ~~ 研讨会详情 ~~
题目：The Expert Guide to Leaf Area Index: Theory, Methods, and Application
主讲人：Jeff Ritter，Product Manager，METER Group
主办方：METER Group
日期和时间：2024年2月28日（星期三）上午 1:00-2:00 (北京时间)
平台： Go to Webinar
可预约回放
叶面积指数（LAI）在很多方面有着广泛的应用，包括：土地管理、生态学以及与GPP（总初级生产力）相关的许多方面。然而LAI的测量方法众多，如何选择最佳的，或者最适合的方法就成为一个需要考虑的问题。选择中，如何权衡精确性和工作强度呢？来加入2024年2月28日的线上研讨会，一探究竟吧。 这次研讨会将讨论如下话题：
什么是叶面积指数LAI 为什么要测量LAI
直接取样法，包括落叶收集法
基于地面的间接方法，包括半球成像法
透射与反射对比法
卫星遥感方法
方法的选择，如何权衡精确性与工作强度
~~ 主讲嘉宾 ~~
Jeff Ritter Jeff Ritter是METER Group的产品经理，负责植物、冠层及大气监测产品。他曾获华盛顿州立大学植物生理学硕士学位，研究方向是叶片表面气体交换，以及植物生物化学对全球碳循环测量的影响。Jeff Ritter还曾在华盛顿州立大学作物和土壤科学系担任研究教职。
~~ 如何参加 ~~
您可以点击阅读原文，直接报名。
考虑到研讨会时间对中国地区不是很方便，我们会在研讨会结束后一段时间为您提供带中文字幕的研讨会回放，请添加力高泰在线咨询微信获取相关信息。
添加咨询微信获取：会议报名链接、回放链接、问题咨询等。
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