BeNano 系列纳米粒度电位仪是丹东百特仪器有限公司全新开发的测量纳米颗粒粒度和Zeta电位的光学检测系统。该系统中集成了动态光散射DLS、电泳光散射ELS和静态光散射技术SLS，可以准确的检测颗粒...

BeNano 180 Zeta 纳 米 粒 度 及 Zeta 电 位 仪 是 BeNano 180+BeNano Zeta 的二合一光学检测系统。该系统中集成了背向动态光散射 DLS、电泳光散射 EL...

BeNano Zeta 电位分析仪是丹东百特仪器公司开发的测量颗粒体系 Zeta 电位的光学检测系统。BeNano Zeta 系统基于电泳光散射原理，样品分散在样品池中，在样品池两端施加一个电场，通过...

BeNano 180 纳米粒度仪是丹东百特仪器公司开发的采用背向散射技术用于检测纳米颗粒粒度及其分布的光学检测系统。它基于动态光散射原理，样品分散在样品池中，通过激光照射到样品上，光电检测器在背向 1...

BeNano 90 纳米粒度仪是基于动态光散射原理，样品分散在样品池中，通过激光照射到样品上，光电检测器在 90°角检测样品颗粒布朗运动造成的散射光强随时间的波动，再通过相关器进行自相关运算得出样品的...