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BeNano 90 Zeta纳米粒度及Zeta电位分析仪

联系方式:丛经理400-860-5168

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BeNano 90 Zeta纳米粒度及Zeta电位分析仪 核心参数
粒径范围: 0.3nm ~ 15μm* 测量分辨率: 2.5-3倍粒径
重复性: +/-1% 分散方式: 自动分散
详细介绍

产品简介

BeNano 90 Zeta 纳米粒度及 Zeta电位分析仪 是 BeNano 90 + BeNano Zeta 二合一的光学检测系统。该系统中集成了动态光散 DLS、电泳光散射 ELS 和静态光散射技术 SLS,可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分布,Zeta 电位,高分子和蛋白体系的分子量信息等参数,可广泛的应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究和质量分析与控制。


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基本性能指标

粒径检测

  原理

  动态光散射技术

  粒径范围

  0.3 nm – 15 μm

  样品量

  3 μL – 1 mL

  检测角度

  90 ° + 12°

  分析算法

  Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

Zeta电位测试

  原理

  相位分析光散射技术

  检测角度

  12°

  Zeta范围

  无实际限制

  电泳迁移率范围

  >±20 μ.cm/V.s

  电导率范围

   0 - 260 mS/cm

  Zeta测试粒径范围

  2 nm – 110 μm 

分子量测试

  分子量范围

  342 Da – 2 x 107 Da 

微流变测试

  频率范围

   0.2 – 1.3 x 107 rad/s

  测试能力

  均方位移、复数模量、弹性模量、粘性模量、蠕变柔量

折光率和粘度测试

  粘度范围

  0.01 cp – 100 cp

  折光率范围

  1.3-1.6

趋势测试

  时间和温度

系统参数

  温控范围

  -15°C - 110°C 

  冷凝控制

  干燥空气或者氮气

  标准激光光源

  50 mW 高性能固体激光器, 671 nm

  相关器

  最快25 ns采样,最多 4000通道,1011动态线性范围

  检测器

  APD (高性能雪崩光电二极管)

  光强控制

  0.0001%  - 100%,手动或者自动

软件

  中文和英文

  符合21CFR Part 11


检测参数

●颗粒体系的光强、体积、面积和数量分布

●颗粒体系的 Zeta 电位及其分布

●分子量

●分布系数 PD.I

●扩散系数 D

●流体力学直径 DH

●颗粒间相互作用力因子 kD

●溶液粘度


检测技术

●动态光散射

●电泳光散射

●相位分析光散射

●静态光散射


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产品优势
BeNano 系列纳米粒度电位仪是丹东百特仪器有限公司全新开发的测量纳米颗粒粒度和Zeta电位的光学检测系统。该系统中集成了动态光散射DLS、电泳光散射ELS和静态光散射技术SLS,可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分布,Zeta电位,高分子和蛋白体系的分子量信息等等参数,可广泛的应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等等领域的基础研究和质量分析质量控制用途。
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