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BeNano 180 Zeta Pro 纳米粒度及 Zeta 电位仪

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BeNano 180 Zeta Pro 纳米粒度及 Zeta 电位仪 核心参数
粒径范围: 0.3nm-15μm* 测量分辨率: 2.5-3倍粒径
重复性: ≤1% 分散方式: 手动分散
详细介绍

产品介绍

BeNano 180 Zeta Pro 纳 米 粒 度 及 Zeta 电 位 仪 是 BeNano  90+BeNano 180+BeNano Zeta 三合一的高级光学检测系统。 该系统中集成了背向 +90°动态光散射 DLS、电泳光散射 ELS 和静态光散射技术 SLS,可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分 布,Zeta 电位,高分子和蛋白体系的分子量信息等参数,可 广泛的应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的 基础研究和质量分析与控制。

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基本性能指标

粒径检测

  原理  动态光散射技术
  粒径范围  0.3 nm – 15 μm
  样品量  3 μL – 1 mL
  检测角度  173 °+90 ° + 12°
  分析算法  Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

Zate电位测试

  原理  相位分析光散射技术
  检测角度  12°
  Zeta范围  无实际限制
  电泳迁移率范围  > ±20 μ.cm/V.s
  电导率范围  0 - 260 mS/cm
  Zeta测试粒径范围  2 nm – 110 μm  

分子量测试


  分子量范围  342 Da – 2 x 107 Da

微流变测试


  频率范围  0.2 – 1.3 x 107 rad/s
  测试能力  均方位移、复数模量、弹性模量、粘性模量、蠕变柔量

粘度和折光率测试


  粘度范围  0.01 cp – 100 cp
  折光率范围  1.3-1.6

趋势测试


  时间与温度

系统参数


  温控范围  -15°C - 110°C  +/- 0.1°C
  冷凝控制  干燥空气或者氮气
  相关器  50 mW 高性能固体激光器, 671 nm
  电泳迁移率范围  最快25 ns采样,最多 4000通道,1011动态线性范围
  检测器  APD (高性能雪崩光电二极管)
  光强控制  0.0001%  - 100%,手动或者自动    

软件


  中文和英文  符合21CFR Part 11


检测参数


●颗粒体系的光强、体积、面积和数量分布

●颗粒体系的 Zeta 电位及其分布

●分子量

●分布系数 PD.I

●扩散系数 D

●流体力学直径 DH

●颗粒间相互作用力因子 kD

●溶液粘度


检测技术

●动态光散射

●静态光散射

●电泳光散射


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产品优势
BeNano 180 Zeta Pro 纳 米 粒 度 及 Zeta 电 位 仪 是 BeNano 90+BeNano 180+BeNano Zeta 三合一的顶级光学检测系统。 该系统中集成了背向 +90°动态光散射 DLS、电泳光散射 ELS 和静态光散射技术 SLS,可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分 布,Zeta 电位,高分子和蛋白体系的分子量信息等参数,可 广泛的应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的 基础研究和质量分析与控制。
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