HORIBA GX型CL光谱仪 HCLUE 核心参数
| 仪器分类: | 单道 | 进样方式: | 双顺序注射泵 |
详细介绍
仪器简介：
电子束入射到样品上，即可用光学方法接收并分析阴发光（CL），从而提供样品详细的物理特性。它是一种无损的分析方法，结合电镜可提供与形貌相关的高空间分辨率光谱结果，是纳米结构和体材料的独特分析工具。
HCLUE是一款基于反射镜耦合优化的CL系统，结合了Jobin Yvon光谱技术制造的光谱仪模块，具有高灵敏度性能，适用于弱信号测量。可同时配备两个探测器，以获得更大光谱范围。
原理图
主要特点：
● 反射镜直接耦合
● 高灵敏度
● 扫描成像、线扫描、点测量
● 多种光栅选项
● 多种焦长光谱仪选项：320mm-550mm
● 可配双探测器以获得大光谱范围：185nm-2500nm
zhong点应用领域：
阴发光光谱仪（CL）是用来表征材料中的缺陷，元素和杂质追踪的强大分析工具，广泛适用于各个应用领域。
1、材料科学
● 半导体和光电材料
● 介电/陶瓷
● 氧化物膜
● 玻璃
2、矿物、地质
● 碳酸岩
● 晶体
● 金刚石
● 锆石、方解石、白云石
3、生命科学
4、gong安
CL光谱及成像：
| ■CL光谱：使用CL测量光谱时，可在电镜下观察并选择待测样品区域。 | ■快速CL成像：将扫描电子束与您的光谱仪同步，提供快速成像方案。使用HCLUE系统测量的GaN样品，测量中使用了超快SWIFTTM成像模式。 |
矿物样品中的白云石和磷酸钙。测量使用Flex-CLUE系统，配备iHR320光谱仪和开放电式CCD探测器。感谢Prof A. Jambon, UPMC France提供数据 |
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产品优势
电子束入射到样品上，即可用光学方法接收并分析阴发光（CL），从而提供样品详细的物理特性。它是一种无损的分析方法，结合电镜可提供与形貌相关的高空间分辨率光谱结果，是纳米结构和体材料的独特分析工具。
