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技术资料
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多谱线光谱拟合技术
发布：珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司浏览次数：671将基线和干扰元素校正（IEC）技术与电感耦合等离子体光学发射光谱法结合使用，以校正分析信号中来自等离子体、基质或分析物以外元素的贡献。如果没有对来自这些成分的贡献进行准确校正，则会导致分析结果错误。但是，这两种校正技术均依赖于内插或外推的校正因子。本文介绍了珀金埃尔默公司开发的多谱线光谱拟合（MSF）技术。
2020-05-20相关仪器 -
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