-
公司新闻
-
CHInano 2020丨看点云集!一分钟速览赛默飞纳博会活动现场
发布:赛默飞化学分析仪器浏览次数:160010月28日第十一届ZG国际纳米技术产业博览会(纳博会)于苏州国际博览ZX盛大开幕。纳博会聚焦第三代半导体、纳米新材料、纳米大健康等热门领域,助推产业发展,展会同期共举办了10场专业论坛,众多行业报告,精彩纷呈,不容错过。
半导体产业的蓬勃发展,带动了半导体和新材料检测需求的增长。针对半导体及新材料分析检测的发展现状与需求,胜科纳米(苏州)有限公司联合中科院苏州纳米技术与纳米仿生研究所测试分析平台、苏州纳米科技发展有限公司,于10月29日成功举办了“第三届纳博会分析测试应用研讨会”。赛默飞世尔科技(简称“赛默飞”)应邀参加了本届研讨会,并带来了2场分析检测前沿技术的主题报告。
赛默飞EFA业务拓展经理唐涌耀带来了主题为“静态激光激发产出率及分析的改进”主题报告。基于激光的失效分析技术是许多实验室的主要研究内容,其中,SLS(静态激光调制)——通常被称为OBIRCH(光束诱导电阻变化)——引领了这个领域,因为它可以在给定的静态偏压条件下,直接定位给定电路的电性故障。本次报告ZD讨论了改进的SLS方案的新功能,高分辨率的固体浸没式透镜(SIL),以及其他分析技术,以提高系统分析产出量。
赛默飞产品专家张治忠发表了 “XPS表面分析技术在先进材料和器件表征中的应用”主题报告,他主要介绍XPS表面分析技术在这些现代先进器件的表面化学以及层结构分布如何影响器件的行为表现和性质,以及XPS如何在工程研发中提供解决方案。
赛默飞&胜科纳米电性失效分析主题研讨会
10月28日下午,赛默飞携手胜科纳米举办了一场技术报告结合上机操作的失效分析主题研讨会。活动现场,共邀请到50余位客户面对面探讨电性失效分析技术,深入了解用于半导体的静态光学失效定位Meridian S系统,近距离观看赛默飞技术专家操作Meridian S现场做样。
Meridian S系统
用于半导体失效分析和第三方实验室的静态光学故障隔离解决方案
关键优势
高灵敏度,锁定放大能力,通过故障诊断与有源探针技术,可实现噪声消除的静态激光激发/光束诱导电阻变化(SLS/OBIRCH) 检测。
光子发射选项涵盖了一系列的灵敏度要求,以便定位短路、检测漏电区域和标测活跃区域。
探针设置和软件采用易用、高生产效率设计。
完全可扩展和升级的光学平台。
支持封装部件和晶圆级系统。
2020-11-03 -
免责声明
①本网刊载上述内容,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任
②若本站内容侵犯到您的合法权益,请及时告诉,我们马上修改或删除。邮箱:hezou_yiqi
-
仪网通钻石会员 第 7 年
赛默飞化学分析仪器
认证:工商信息已核实
- 产品分类
- 品牌分类
- 红外光谱仪
- PAT系列过程质谱仪
- XRF元素分析仪
- 便携式拉曼光谱仪
- 便携式近红外|红外光谱仪
- 便携式辐射测量仪
- 便携式能谱分析仪
- 个人剂量测量仪
- 巡测仪
- 放射性搜寻及勘查系统
- 通道式辐射监测系统
- 颗粒物监测仪/采样器
- VOC检测仪
- 气相色谱仪
- 密度计
- 环境监测仪器/气体检测仪器
- 半导体工艺控制质谱
- 气体质谱/在线质谱仪
- 数据采集器
- 零气发生器
- 水质分析仪/多参数水质分析仪
- 电导率仪
- TDS/盐度/pH/ISE/电导率/溶解氧测量仪
- 离子检测仪
- 浊度计/浊度仪
- X射线异物检测
- 金属检测机
- 皮带秤
- 在线检重秤
- COD测定仪
- 余氯测定仪
- 水质毒性分析仪
- 总磷/总氮分析仪
- 工艺控制器和分析仪
- 水泥在线元素分析
- VOC检测仪
- 在线测厚仪
- EPM/WAI
- X射线源/X光管
- 拉曼光谱仪
- 旋转流变仪
- 粘度计
- 药物制剂工艺设备
- 近红外光谱仪
- 直读光谱仪
- 挤出机
- 紫外-可见分光光度计
- 光学仪器
- 核磁共振波谱仪
- X射线衍射仪
- X射线荧光光谱仪
-
仪企号赛默飞化学分析仪器
-
友情链接
-
手机版开启全新的世界m.yiqi.com/zt2626/