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手持式光度计价格:面议
- 品牌: 美国蓝菲光学
- 型号:HLMS-200P
- 产地:美国
持式光度计 HLMS-200P是一种易于使用的精确的光度测试仪,可以应用在现场、实验室和生产车间。用于测试LED、灯具和光纤的光通量,HLMS-200P设备能保证在低亮度水平下保持最高灵敏度,可以测量
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LED光学热学和电学性能分析系统价格:面议
- 品牌: 美国蓝菲光学
- 型号:Illumia pro LED
- 产地:美国
ED光学热学和电学性能分析系统 Illumia pro LED光学热学和电学性能分析系统方便用户对LED、LED模块及阵列的电特性准确测量并同时测量光学和热学特性。 LED制造商、集成商以及用户非常关
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单颗LED光强分布测试仪价格:面议
- 品牌: 美国蓝菲光学
- 型号:LSA 3000
- 产地:美国
颗LED光强分布测试仪 LabsphereLSA3000是一种自动的分布式光度计计,主要与Labsphere软件和LED测试及测量产品一起配合使用。用户可通过软件对LSA3000待测装置(DUT)的旋
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反射率透过率测试系统价格:面议
- 品牌: 美国蓝菲光学
- 型号:LSS
- 产地:美国
射率透过率测试系统
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激光功率测量积分球价格:面议
- 品牌: 美国蓝菲光学
- 型号:Infragold
- 产地:美国
光功率测量积分球 Labsphere(蓝菲光学)的激光功率测量积分球是测量高度分散的光源如激光二极管、激光平行光束的总辐射功率的理想选择,不需要复杂的定位和校准程序即可进行快速、精确、重复性测量,同样
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反射率/透射率积分球价格:面议
- 品牌: 美国蓝菲光学
- 型号:RT--060-SF
- 产地:美国
射率/透射率积分球最适宜测量内容: 材料反射率和透射率 不透明物体的反射率混浊样品的透过率 颜色特性 反射系统设计 红外反射 反射率与角度的关系 Labsphere的反射率/透射率测量积分球可用于各
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大型均匀光源系统定制价格:面议
- 品牌: 美国蓝菲光学
- 型号:uss
- 产地:美国
型均匀光源系统定制国际权威的大型均匀光源制造商,具有上百套系统的设计制造经验用于大口径成像和非成像系统的校准可用于校准各类相机、传感器、探测器及光度、辐射度仪器输出辐射度可根据要求进行灵活配置,满足不
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杂散光/眩光测试系统价格:面议
- 品牌: 美国蓝菲光学
- 型号:4000-VG
- 产地:美国
散光/眩光测试系统4000-VG 40”镜头/光学系统杂散光/眩光测试系统特点用双积分球结构,光阱采用低反射率涂层对比度大于10000:1从小尺寸到大尺寸可选,适合小型光学系统到大口径光学系统的测试照
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低光度均匀光源系统价格:面议
- 品牌: 美国蓝菲光学
- 型号:USS-1200V-LL
- 产地:美国
光度均匀光源系统 USS-1200V-LL均匀光源系统是为低辐照水平设计的均匀光源系统,在紫外可见和红外可达到m=0星等水平。辐照度可实现8个数量级的变化范围。均匀度好于98%,在7个波段内,系统可校
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大型均匀光源系统价格:面议
- 品牌: 美国蓝菲光学
- 型号:USS-4000C
- 产地:美国
型均匀光源系统 Labsphere的USS-C连续可调均匀光源系统和USS-S步进均匀光源系统采用立式结构积分球系统,系统包括积分球、多个灯泡或照明光源总成及灯的电源。所有的系统均包含监控探测器,电机
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小型均匀光源系统价格:面议
- 品牌: 美国蓝菲光学
- 型号:USS2000
- 产地:美国
型均匀光源系统 Labsphere小型USS是行业的均匀光源,用于校准成像器件、相机、遥感和监控仪器。这些先进的均匀光源系统包括亮度和辐射度标准,以及成像校准源以满足大多数应用。均匀光源满足紫外、可
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通用积分球价格:面议
- 品牌: 美国蓝菲光学
- 型号:3P-GPS-030-SF
- 产地:美国
样选择积分球尺寸订购适合你应用的积分球以, 有几个因素必须要考虑到。最重要的因素包括:直径/源尺寸比 外部装置支架的尺寸至少是积分球的直径的1.5倍。.表面比端口的面积 如果端口覆盖面积超过积分球面积
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LED光源光色电测试系统价格:面议
- 品牌: 美国蓝菲光学
- 型号:Illumia
- 产地:美国
#13; LED光源光色电测试系统
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中型均匀光源系统价格:面议
- 品牌: 美国蓝菲光学
- 型号:USS-1200
- 产地:美国
#13; 中型均匀光源系统
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美国蓝菲光学
美国Labsphere公司于1979年成立,是世界上最早也是目前规模最大的生产积分球及以积分球为核心的光电仪器厂商,总部位于美国新英格兰地区的新罕布什尔州,在30余年的发展历程中labsphere始终保持在全球光源计量、照明测量、辐射标定、反射率透射率测试及光学漫反射涂料领域内的领先地位。 蓝菲光学的产品包括发光二极管(LED)、激光器及传统光源的光测量系统;成像设备校准用的均衡光源;光谱学附属设备;高漫反射涂料及背光显示屏覆层、计算机X线成像以及系统校准。