-
解决方案
-
准动态测量法测量块体薄膜材料的 seebeck 系数和电阻率
发布:上海昊扩科技发展有限公司浏览次数:1271本仪器采用准动态法(具有ZL技术)和四探针法分别测量样品的 seebeck 系数和电阻率不仅可用于测量半导体块状样品,康铜镍铋等金属半金属样品,石墨碳材料等非金属样品的seebeck 系数和电阻率,还可测薄膜(纳米)样品的 seebeck 系数和电阻率 薄膜及块体 seebeck 系数和电阻率检测 嘉仪通 热电参数测试系统Namicro-
2015-07-06上一篇:准动态测量法测量薄膜材料的 seebeck 系数和电阻率 - 薄
下一篇:没有了相关仪器 -
免责声明
①本网刊载上述内容,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任
②若本站内容侵犯到您的合法权益,请及时告诉,我们马上修改或删除。邮箱:hezou_yiqi
-
认证会员 第 10 年
上海昊扩科技发展有限公司
认证:工商信息已核实
- 产品分类
- 品牌分类
-
仪企号上海昊扩科技发展有限公司
-
友情链接
-
手机版开启全新的世界m.yiqi.com/zt2774/