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Webinar丨利用掠入射 X 射线散射揭示薄膜中的纳米结构

发布：安东帕(上海)商贸有限公司

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安东帕 X 射线分析解决方案助力探索世界

掠入射小角 X 射线散射 (GISAXS) 是研究各种材料的薄膜和表面的强大工具。GISAXS 提供样品的代表性结果，因此可以理想地补充用显微镜等其他方法获得的信息。在本次网络研讨会中，您将了解 GISAXS 原理，以及该方法如何用于表征薄膜材料的纳米结构表面。薄膜材料涵盖能量转换和存储，催化，半导体和许多其他应用。

关于讲座

about the Webinar

主题/时间

topic/date

主题：利用掠入射 X 射线散射揭示薄膜中的纳米结构

时间：2024年3月6日

16：00-17：00

主讲人

speaker

主讲人：Dr. Armin Moser

Armin Moser 博士在格拉茨理工大学获得技术物理学博士学位，主要研究表面诱导结晶相的晶体结构解决方案。博士毕业后，他于2012年3月加入安东帕，目前是小角 X 射线散射团队的一员。

关于内容

about the Content

掠入射小角 X 射线散射 (GISAXS) 已成为研究薄膜和表面纳米结构的强大工具。许多材料通过纳米尺度的自组装形成结构，并在这方面引起了极大的关注。值得注意的例子包括用于有机电子器件的共轭聚合物和分子。这些材料的层间距范围为 1 纳米到约 100 纳米。这些体系具有多种应用，包括柔性消费电子产品、医疗传感器等。这使得它们成为工业涂层和印刷工艺中备受追捧的材料。

掠入射小角 X 射线散射 (GISAXS)是基于 X 射线在空气-材料界面处的全外反射原理对薄膜进行分析的。这种现象限制了 X 射线对样品的穿透，从而可以精确地检测表面和接近表面的特征。只需调整入射角，就可以精确地控制穿透深度，使研究人员能够选择性地探测薄膜的特定层。

在本次网络研讨会中，您将了解 GISAXS 方法的基本原理和相关应用。此外，您还将了解安东帕的 SAXS 和 GISAXS 产品组合。

研讨会主要内容：