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术参数：脉冲宽度(FWHM)： < 150-300 fs 波长： 1560 ±10 nm 平均输出功率： > 100 mW 峰值输出功率：最高10 kV

术参数：脉冲宽度：< 70fs 调谐范围：1230-1270 nm 输出功率：180-250 mW 推荐的泵浦功率：6-10 W 重复频率：75/100

术参数：波长：700-1500 nm 动态量程： 108 (in window 104) 瞬态时间范围： 950 ps 输入脉冲能量： (40-50 fs puls

术参数：波长范围：700-1000 nm;1000-1400 nm 脉冲宽度范围：20-200 fs; 2002000 fs 输入脉冲能量：>500 nJ (1-10 Hz);

术参数：波长：1250 nm 脉冲宽度(FWHM)：60-80 fs 脉冲功率：1-2 TW 输出稳定性：

术参数：能量：1 nJ 脉冲宽度(800 nm)：40 fs 重复频率：10-100 Hz 泵浦能量(532 nm, < 200 ns): 10 mJ

术参数：波长范围： 740-880 nm 脉冲宽度范围：12-40 fs / 30-120 fs/ 6-15 fs 灵敏度：最小平均功率100 mW@100 MHz；0.1 m

器简介：Del Mar Photonics公司(http://www.dmphotonics.com)总部位于美国加州亚哥，是一家专注于高级科学和工业应用的光子学产品的制造商和系统集成商。产品种类包括

膜测厚仪仪器简介：提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动动态存储、自定义数据显示格式等。综合绘图软件可以采

器简介： 提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动动态存储、自定义数据显示格式等。综

器简介： 该系统利用扫描探针显微镜光杠杆位移检测技术和超平整参照面-大型样品台扫描技术，并与压电陶瓷（PZT）扫描wan美结合，可以再不丧失精度的情况下，即得到超大样品整体三维

器简介： 该系统利用扫描探针显微镜光杠杆位移检测技术和超平整参照面-大型样品台扫描技术，并与压电陶瓷（PZT）扫描wan美结合，可以再不丧失精度的情况下，即得到超大样品整体三维轮廓图，又呈

器简介：NanoMap-D双模式扫描三维表面轮廓仪是用于表面结构测量和表面形貌分析的一款测量计量型设备。既可以用于科学研究，也可以用于工业产品的检测。1、三维表面结构：粗糙度,波纹度，表面结构，缺陷分

廓仪NanoMap-500LS接触式三维表面台阶仪NanoMap-500LSNanoMap 500LS探针三维台阶仪特点常规的探针轮廓仪和扫描探针显微镜技术的wan美结合 双模式操作（针尖扫描和样品台

器简介： NanoMap-D扫描三维表面轮廓仪是用于表面结构测量和表面形貌分析的一款测量计量型设备。既可以 用于科学研究，也可以用于工业产品的检测。 1

器简介： NanoMap-D (双模式) 三维轮廓仪使成像提高到一个新的水平。它所具有技术竞争力在于接触式和光学三维轮廓仪的wan美结合。自动采样运动和一键测量功能使得 Nan