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电响应力显微术 (PFM)生物材料与铁电材料等的成像许多材料的机电耦合行为，如生物基细胞膜和蛋白质，铁电和压电材料从现在开始都可以用压电响应力显微镜来表征。这一成像技术在开发基于铁电畴变等的新型电子设

T-MDT磁力显微镜（MFM）是通过磁力探针在磁性材料样品上扫描，可以得到样品纳米尺度的形貌特征，磁力大小以及磁场分布的一种分析设备。具有分辨率高，稳定性好，扫描范围大，响应快等特点。

C AFM是在原子力显微镜样品台上安装电化学池，可以在纳米尺度进行电化学性能的研究。在电化学发生的同时，进行样品表面的形貌测试。1.安装电化学池非常便捷。2.开放的设计，允许用户进行改变。3.电化学池

电响应力原子力（PFM）是在原子力显微镜（AFM）的基础上，用导电探针在压电材料上进行测试，得到纳米尺度的压电场机压电分布。具有分辨率高，扫描速度快等特点。PFM可以应用到如下领域：1.铁电材料。2.

术参数：测量模式： STM/ AFM (接触 + 轻敲+非接触)/ 横向力/ 相位/ 力调制/力谱/粘附力/磁力/静电力/ 开尔文/ 扩展电阻/纳米压痕/纳米刻蚀: AFM (电压刻蚀 + 力刻蚀)扫

器由主机和控制系统、专用工具、操作软件及附件组成。主要用于化学、材料科学（纳米材料、高分子、聚合物、半导体等）、生命科学以及相关领域的研究工作，对各种材料、化工产品、生物制品、非金属矿及深加工产品等进

器简介：NTEGRA Spectra 是一款独特的集成了扫描探针显微镜、激光共聚焦/荧光显微镜和拉曼光谱仪的系统。其强大的TERS效应，可在得到拉曼光谱的同时获得高达50nm的成像分辨率。只有NTEG

超越激光衍射极限的系统来研究样品NTEGRASpectra 在检测样品时，通过扫描近场光学显微术能提供超越激光光学衍射的光学分辨率。支持两种不同的SNOM方式：光纤式SNOM和悬臂梁式SNOM所有的S

器简介：NTEGRA平台是一个革命性的技术概念，在拥有所有SPM技术：原子力/磁力/静电力/表面电势/导电原子/扫描电容/压电力/纳米刻蚀等功能的同时，还能配备近场光学显微镜/共聚焦拉曼/外加磁场/超

子力声学显微镜是基于福朗霍夫非破坏性测量研究所(Saarbrucken,Germany)Walter Arnold教授的工作研制的。Hirsekorn等精辟地描述了常规的AFM与AFAM之间的差别。在

器简介：NTEGRA Spectra是一款独特的集成了扫描探针显微镜、激光共聚焦/荧光显微镜和拉曼光谱仪的系统。其强大的TERS效应，可在得到拉曼光谱的同时获得高达50nm的成像分辨率。只有NTEGR