激光测量

激光诱导击穿光谱（LIBS）是一种通过脉冲激光轰击样品获得样品轰击面区域原子发射光谱的分析方法。其具有快速分析，同时能检测多种元素等特点。经过几十年，特别是近20年的研究发展，LIBS技术已经从实验室...

LIF在等离子体上的应用诊断开始于1975年左右，首先是由R.Stern和J.Johnson提出的利用LIF装置可以测量中性基团和离子的相对速度、速度分布函数等。90年代后，LIF被陆续应用到了ECR...

基于激光技术发展起来的汤姆逊散射诊断原本用于高温聚变等离子体的测量，借助激光技术和光电探测技术的突飞猛进，汤姆逊散射在近年也大量应用于低温等离子体的密度和电子温度的测量。

激光护目镜，防护窗，防护帘，防护墙；在任何激光器运行的场合，人身安全防护都拥有ZG优先级。 美国Laservision 公司成立于1995 年，是知名的激光防护产品制造商，产品经NIST 或CE 认证...

PHASICS 公司提供SID4 系列波前传感器，覆盖紫外~ 中远红外波段，主要应用包括： * 激光：激光光束质量测量、自适应光学、激光系统准直、气体与等离子体密度测量； * 光学计量：镜头与镜头组检...

Kaleo MTF 工作站是专为成像镜头研发、生产而设计的全自动MTF 测试系统，可用于镜头设计、原型制作、生产质检等各个步骤。Kaleo MTF 综合了干涉仪和传函仪的功能，提供完整的镜头 特性评估...

有别于基于传统Fizeau 干涉仪的方法，采用位相检测方法直接构建的动态干涉 仪既不需要移动待测元件多次曝光，也不需要采用偏振等复杂的光学手段，针 对待测元件进行一次测量即可获得其反射面型或透过波差；...

高性能光学元件/ 光学系统是多种多样的。PHASICS 提供基于SID4 波前传感器、R-Cube 光源及双路分光模块、成像模块等构建的组合测试方案，方便用户根据待测物的特性（如口径、焦距等）订制光学...

PHASICS SID4 Element 是1:1 高分辨率的位相成像组件，可直接插入 用户的成像系统与已有相机中间，将传统成像系统改造为定量位相成 像系统；SID4-sC8 则是一体式位相传感器，为...

美国StellarNet 公司专业生产掌上式光谱仪，覆盖190 ~ 2600nm。采用不同的光栅、探测器，覆盖范围可达900nm，分辨率可低至0.05nm。

小型光栅光谱仪可用于测量较宽光谱的光源，例如飞秒激光器、LED、半导体激光器等。AVESTA 生产的75mm 焦距、150mm 焦距光谱仪及红外光谱仪，尺寸介于掌上光谱仪与大型光栅光谱仪之间，中心波长...

MWM 是一台350 ~ 1120nm高分辨率的微型光谱仪。其输入灵敏度可低至pW，而光谱分辨率达到pm 量级。可通过面板直读也可用电脑采集。

FZW6000 是一台菲索干涉仪，可测量400 ~ 1100nm 激光波长。小巧的体积集成了显示屏，可直读测量结果，也支持以太网和USB 电脑界面

828B 高速光通讯激光波长计专门为密集波分复用DWDM 应用研发与优化，工作范围1250nm-1650nm(182240THz)，O/E/S/C/L/U 几乎全波段，精度高达±0.2ppm，在线测试...

438 系列光通讯激光多波长计专门为密集波分复用DWDM 应用研发与优化，工作范围1000nm - 1680nm(179300THz)，O/E/S/C/L/U几乎全波段，精度高达±0.2ppm，可以在...

338 系列光通讯激光多波长计专门为密集波分复用DWDM 应用研发与优化，工作范围1270nm - 1680nm(179 - 236THz)，O/E/S/C/L/U几乎全波段，精度高达±0.2ppm，...